河北經(jīng)緯機械制造
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摘要： INF150-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF150-LP平面光學元件的表面面型測量平面光學元件平行度測量 |
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摘要：INF450-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號：INF450-LP-WM成像質(zhì)量良好，結(jié)構(gòu)簡潔臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測量操... |
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摘要：INF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF150V-LPINF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀主要用于生產(chǎn)現(xiàn)... |
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摘要：INF300V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF300V-LP測量光學平面面型精度測量光學元件的材料均勻性對干涉條紋進... |
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摘要：INF200V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF200V-LP中大口徑光學元件平面面型精度測量對干涉條紋進行數(shù)據(jù)分析處... |
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摘要：INF600-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF600-LP-WM雙端口檢測大口徑平面元件面型檢測光學材料均勻性測... |
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摘要：INF300H-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號：INF300H-LP-WM測量光學平面面型精度測量光學元件的材料均勻性... |
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摘要：INF800-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號：INF800-LP-WM成像質(zhì)量良好 臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測量操作方便，... |
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摘要： 激光干涉儀測量系統(tǒng)HPI-3DHPI-3D激光測量系統(tǒng)是*的 |
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摘要：光刻機專用雙頻激光干涉儀可構(gòu)建XY位移臺等多軸測量系統(tǒng)采用直接輸出線偏振光、大功率、大頻差雙頻激光器無圓偏振光轉(zhuǎn)線偏振光... |
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摘要：XDLASER可一次測量六個參數(shù)的激光干涉儀80米線性測量范圍0.5PPM測量精度6自由度高效測量4.2KG整機重量多軸... |
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摘要： 專為計量檢測用戶打造的高精度雙頻激光干涉儀的高精度線性位移、長度檢測標定工具 |
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摘要：專為機床測校用戶開發(fā)通用型高精度激光干涉儀采用單頻激光測量，雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)緊湊設(shè)計，適合外出服務(wù)攜帶自動環(huán)境補償，不同... |
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摘要：ZernikeLaserInterferometersTheZERNIKE-D601isdesignedforonlin... |
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摘要： 功能：◆大型平面光學零件的平面度及面形測定；◆各種材料的高精度鏡片的球面測定 |
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摘要：高靈敏度，不需要靶鏡，非接觸式測量可測的微、小、輕、薄、黑、透、易變形、熱表面對被測物表面反射率無嚴格要求，可測“黑”表... |
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摘要： ZERNIKE-D30小型球面激光干涉儀，是為小球面在線檢測研發(fā)，用于生產(chǎn)和科研中測量球面的面型精度 |
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摘要： 的便攜式精密測校系統(tǒng)采用雙頻激光，測量精度高緊湊設(shè)計，適合外出服務(wù)攜帶抗力強，大型機床長距離檢測時也能保證穩(wěn)定精準 |
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摘要：澤尼克激光干涉儀系列產(chǎn)品中 ZERNIKE-D150專門針對在線實時光學面型檢測，光學加工企業(yè)、光學檢測機構(gòu)以及其他要進... |
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摘要：XK10激光校準儀設(shè)計用于測量機床的幾何量誤差與旋轉(zhuǎn)軸心線誤差。該激光校準儀配有專用機床夾具組件，相較于千分表、自準直儀... |
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摘要： XM-60是一款可測量6個自由度的激光測量系統(tǒng)：沿線性軸測量只需一次設(shè)定 |
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摘要：標準的XL-80激光干涉儀可以高達50kHz的頻率采集動態(tài)數(shù)據(jù)。QuickViewXL軟件包簡單易用，有直觀的界面，能夠... |
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摘要：激光干涉儀以激光波長為已知長度，采用激光干涉原理來測量位移長度，是至今*的高精度測量儀器，其測量結(jié)果可溯源到長度自然基準... |
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摘要：SJ6000激光干涉儀器設(shè)備以干涉技術(shù)為核心，其光波可直接對米進行定義。采用激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)，可實現(xiàn)高精度、抗擾力強... |
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摘要： 傅里葉變換紅外專用邁克爾遜模塊邁克爾遜干涉儀的基本原理：MOST基本結(jié)構(gòu):NIR干涉儀INT05這個裝置是堅固的，需調(diào)整 |
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