- 用途
- 技術(shù)參數(shù)
1、雙端口檢測(cè);
2、大口徑元件面形檢測(cè);
3、光學(xué)材料均勻性測(cè)量;
4、平行平板元件多表面測(cè)試;
5、元件面形分析,光學(xué)數(shù)據(jù)處理。
序號(hào) | 指標(biāo)名稱 | 指標(biāo)參數(shù) |
1 | 測(cè)試結(jié)構(gòu) | 臥式雙端口; |
2 | 測(cè)試口徑 | 大端口:通光口徑≥φ815mm,有效口徑≥φ800mm; 小端口: 通光口徑≥φ102mm,有效口徑≥φ100mm; |
3 | 相移方式 | QPS波長(zhǎng)調(diào)諧相移解相; |
4 | 測(cè)試光源 | 波長(zhǎng)調(diào)諧相干光源,λ=632.8nm,相干長(zhǎng)度≥100m; |
5 | CCD指標(biāo) | 分辨率≥2.3K×2.3K,幀率≥50Hz; |
6 | φ800mm標(biāo)準(zhǔn)楔形鏡(TF鏡) | 標(biāo)準(zhǔn)面面形:PVr優(yōu)于λ/12,中頻誤差PSD1小于0.9nm,進(jìn)口熔石英材料; |
7 | φ800mm標(biāo)準(zhǔn)反射鏡(RF鏡) | 標(biāo)準(zhǔn)反射面面形:PVr優(yōu)于λ/12,中頻誤差PSD1小于0.9nm,進(jìn)口微晶材料; |
8 | 系統(tǒng)傳遞函數(shù) | ITF ≥ 0.7 @ 0.4 mm-1(φ800mm大端口系統(tǒng)); |
9 | 系統(tǒng)精度 | 系統(tǒng)精度:系統(tǒng)空腔精度PVr優(yōu)于λ/10,中頻誤差PSD1小于0.9nm(φ800mm有效口徑內(nèi)); |
10 | 系統(tǒng)重復(fù)性精度 | 系統(tǒng)重復(fù)性精度:系統(tǒng)RMS重復(fù)性優(yōu)于0.63nm,λ/1000(2σ); |
11 | 調(diào)焦范圍 | 光瞳調(diào)焦范圍≥±2.5m; |
12 | ZOOM變焦 | ZOOM變焦:1X光學(xué)變焦,50X數(shù)字變焦; |
13 | 測(cè)試對(duì)準(zhǔn)方式與角度 | 測(cè)試對(duì)準(zhǔn)方式與角度:快對(duì)準(zhǔn)與精密對(duì)準(zhǔn)方式,對(duì)準(zhǔn)角度≥±15°/±3°; |
14 | 波長(zhǎng)調(diào)諧相移分析軟件 | 輸出峰谷值(PV)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(RMS)、等高圖、X-Y剖面圖、三維立體圖、干涉條紋圖、MTF(光學(xué)傳遞函數(shù))、PSF(點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)),澤爾尼科多項(xiàng)式分析、賽德爾相差分析等; 分析軟件可進(jìn)行矩形、橢圓、正方形、圓、多邊形等數(shù)據(jù)分析功能; 平行平板類元件測(cè)試功能(樣品無需特殊處理),一次干涉條紋數(shù)據(jù)采集可同時(shí)得到,平行平板前表面面形、后表面面形,光學(xué)厚度變化; 具有材料均勻性測(cè)試分析功能; |
15 | 標(biāo)準(zhǔn)反射鏡支撐調(diào)節(jié) | 二維手動(dòng)與電控角度調(diào)節(jié),整體結(jié)構(gòu)氣浮大范圍移動(dòng); |
16 | 測(cè)試工裝 | 兩維角度調(diào)節(jié),一維平移調(diào)節(jié),大范圍氣浮調(diào)節(jié); |
17 | 氣浮隔振平臺(tái) | 進(jìn)口TMC氣浮L形隔振平臺(tái), 尺寸≤3500mm1500mm+1500mm×3000mm。 |