設(shè)備介紹內(nèi)容：
各層Layer與薄膜厚度量測
使用Echoprobe™技術(shù)，藉由IR光可穿透物質(zhì)的特性(金屬層除外)。於各層材料的界面接收反射光譜，並利用折射率(Reflective index)計算待測層的厚度(Thickness)，廣泛適用於所有IR可穿透材料之厚度量測。

FSM厚度量測設(shè)備特點

• 量測範(fàn)圍廣，可量測30nm~780um的厚度量測，總厚可達3mm(支援薄膜量測Thin-film measurement)
• 具真空載臺，提供Nano-topography測量時的穩(wěn)定性
• 同一感測器(IR sensor)可進行多種功能量測
• 可編程軟體，搭配全自動量測，可同步量測材料之正反面資訊
• 快速且準(zhǔn)確的量測，具奈米級的重複性與再現(xiàn)性
• 可自動生成量測報告，節(jié)省工作時間

FSM厚度量測設(shè)備應(yīng)用
廣泛適用於半導(dǎo)體、電子、LED、太陽能、FPD平板顯示器、MEMS等產(chǎn)業(yè)。以電子及半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)為例，F(xiàn)SM可應(yīng)用於：

• 多層厚度量測(含薄膜)：Silicon、AlN、Tape、PR、PI、Glass…等可穿透材料厚度
• Wafer形貌分析：Bow/ Warpage(翹曲)、總厚度變異(TTV)、Thickness
• 表面形貌、尺寸量測：錫球高度Bump Height, 切割道、段差、表面粗糙度Roughness
• 先進製程量測：3DIC量測、TSV量測

詳細(xì)規(guī)格與應(yīng)用，或來信洽詢。