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BeamSquared光束分析儀 詳細摘要: BeamSquared®系統(tǒng)是一款緊湊型全自動工具,用於測量從紫外到近紅外直至電信波長的連續(xù)波和脈衝激光系統(tǒng)的傳播特性
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
千瓦級光纖雷射YLR-U 詳細摘要: IPG為光纖雷射的,宣布推出新一代旗艦機YLR-U系列,無疑將光纖雷射製造的工藝技術(shù)提升到更高水平
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功率計/能量計Pulsar-4 詳細摘要: Pulsar-4Ophir的4通道Pulsar接口將您的PC或筆記本電腦變成一個功能齊全Ophir多通道雷射功率/能量計
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8 詳細摘要: 狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:矽探測器,3.5mm狹縫,1.8µmNanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器,精確捕獲和分析190nm-1...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
LaserCheck雷射功率計 詳細摘要: 手持式雷射功率計LaserCheck為即用型,配有電池、一體式口袋夾、CE認證和用戶說明書
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/9/5 詳細摘要: 狹縫掃描式光束輪廓分析儀:矽探測器,9mm毫米,5µm狹縫NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器,精確捕獲和分析190nm-1100...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
µ-ROC單發(fā)式自相干儀 詳細摘要: FemtoEasyµ-ROC(RowOpticalCorrelator)單發(fā)式自相干儀,有著極為緊湊且堅固的機身,並植基於ROC的量測原理而可適用在...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
ROC單發(fā)式自相干儀 詳細摘要: FemtoEasyROC單發(fā)式自相干儀,有著極為緊湊且堅固的機身,並能針對LASERsingleshot做量測,且無須另外校正,能針對不同波長、不同pulsed...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
MS-ROC多發(fā)式自相干儀 詳細摘要: FemtoEasyMS-ROC多發(fā)式自相干儀,藉由二倍頻產(chǎn)生之技術(shù),使得此相干儀在高穩(wěn)定量測品質(zhì)的同時也能保有極為緊湊的機身,特別適合量測sub-nJperpu...
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高功率紫外光纖雷射 詳細摘要: KIMMONKOHA是一間大規(guī)模的雷射公司,擁有40年以上的生產(chǎn)經(jīng)驗
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SP932U光束分析儀(光斑分析)Beam Profiler 詳細摘要: SP932U光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長
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YLS 高功率多模光纖雷射 詳細摘要: YLS 高功率多模光纖雷射
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雷射護目鏡P5C02 詳細摘要: LaserVisionP5C02雷射護目鏡ー近紅外雷射護目鏡/抗IR濾紅外光護目鏡
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脈衝光護目鏡P5L04/P5L05 詳細摘要: 脈衝光護目鏡-F22.P5L04.5000/F22.P5L05.5000-Laservision灰色脈衝光護目鏡
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雷射光譜分析儀771系列 詳細摘要: Bristol771系列雷射波長計是從可見光到中紅外的最完整的雷射光譜表徵一臺儀器進行雷射光譜分析和波長測量771系列雷射光譜分析儀使用成熟的麥克森干涉儀技術(shù)與...
產(chǎn)品型號: 所在地: 更新時間:2022-06-03 參考價: 面議 在線留言 -
SP920s光束分析儀(光斑分析)Beam Profiler 詳細摘要: SP920s光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長,在1070nm的響應要優(yōu)於其他所有相機
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PD300二極體功率探測頭 詳細摘要: OPHIRPD300P/N7Z02410是一款通用型光電二極體雷射測量探測器,配備旋轉(zhuǎn)座及可拆卸式濾光片,具有10x10mm孔徑
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雷射護目鏡P5E01 詳細摘要: LaservisionP5E01雷射護目鏡ー抗藍光護目鏡片/抗UV濾藍光護目鏡
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BeamPeek光束分析儀 詳細摘要: 新產(chǎn)品!BeamPeek™高功率雷射束分析和功率測量系統(tǒng)BeamPeek™系統(tǒng)可以同時對(3D列印)積層製造(AM)雷射進行光束分析、焦...
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