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    先鋒科技股份有限公司>>雷射/測量工具>>雷射光束分析M2量測>>狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8
    
        
    
    
    
    
    
        
    
            
    狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8
    
            
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      狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8
      
                            
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    產(chǎn)品簡介
    
            
    
            
    
                
    
                    
    
                      
    
                                                                      
    
                    
    
                    
    
                    狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：矽探測器，3.5mm狹縫，1.8µmNanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長
                
    
            
    
        
    
        
    
            
    
                
                
    詳細(xì)介紹
    
                             
    
            
    
                
    
                        
    Ophir
    狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：矽探測器，3.5mm狹縫，1.8µm NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長。該分析儀包括適合於小光束的狹縫尺寸，近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率，可選的功率測量功能等特徵，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合於對(duì)UV，VIS和NIR雷射進(jìn)行全面分析。
    • 光束尺寸7µm至?2.3mm
    • 功率級(jí)範(fàn)圍為?10nW至?10W
    • USB 2.0介面
    • 包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟體
     狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8 主要參數(shù)
    • Wavelengths：190-1100nm 
    • Beam Sizes：7μm - 2.3mm 
    • Interface：USB 2.0 
    • Sensor Type：Silicon 
    • Compatible Light Sources：CW, Pulsed >25kHz 
    狹縫掃描式小光束輪廓分析儀狹縫掃描式小光束輪廓分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8
                
    
            
    
        
    
                 
    
            
    
                
                
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