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VASE高精度薄膜厚度量測(cè)儀 詳細(xì)摘要： J.A.WoollamVASE是一款高精度多角度橢圓偏光儀，V-VASE系統(tǒng)非接觸式膜厚量測(cè)，垂直擺放樣品，移動(dòng)精度高，量測(cè)角度從15-90度，可進(jìn)一步量測(cè)樣品...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2022-06-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測(cè)儀 詳細(xì)摘要： VUV-VASEEllipsometer薄膜厚度量測(cè)儀以M-2000為主體
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橢圓偏光儀Alpha-SE非破壞性薄膜/光阻厚度量測(cè) 詳細(xì)摘要： 橢偏儀光譜橢偏儀Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測(cè)儀是J.A.Woollam橢偏儀產(chǎn)品中
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多點(diǎn)量測(cè)橢偏儀Theta-SE(橢圓儀) 詳細(xì)摘要： 橢偏儀theta-SE多點(diǎn)量測(cè)橢偏儀是一種用於表徵薄膜均勻性的光譜式橢偏儀
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多角度寬光譜橢偏儀M-2000 詳細(xì)摘要： M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測(cè)的各種需求
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