多角度寬光譜橢偏儀M-2000-先鋒科技股份有限公司

參考價(jià)	面議

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測(cè)的各種需求

詳細(xì)介紹

M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測(cè)的各種需求。先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì)、寬光譜範(fàn)圍和快速數(shù)據(jù)採(cǎi)集，結(jié)合在一個(gè)極其強(qiáng)大和多功能的橢偏儀工具中。 M-2000 橢偏儀提供速度和準(zhǔn)確性。
J.A. Woollam獲得的 RCE 技術(shù)將旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器橢偏儀與高速 CCD 檢測(cè)相結(jié)合，可在幾分之一秒內(nèi)以多種配置收集整個(gè)光譜（數(shù)百個(gè)波長(zhǎng)）。 M-2000 是款真正擅長(zhǎng)從in-situ監(jiān)測(cè)和鍍膜過(guò)程控製到大面積均勻性量測(cè)和表徵薄膜折射率的橢偏儀。沒(méi)有其他橢偏儀技術(shù)能夠更快地獲得全光譜橢偏數(shù)據(jù)量測(cè)。除此以外，M-2000橢偏儀也具有高度的擴(kuò)充性，客戶(hù)可自行選擇所需的波長(zhǎng)範(fàn)圍，電控平臺(tái)大小
多角度寬光譜橢偏儀M-2000 特點(diǎn)

先進(jìn)的橢偏儀技術(shù)：旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償（RCE）技術(shù)的使用，使M-2000獲得了超高的準(zhǔn)確性和重複性。
快速光譜探測(cè)：RCE設(shè)計(jì)結(jié)合先進(jìn)的CCD探測(cè)技術(shù)，使得所有波長(zhǎng)點(diǎn)上的數(shù)據(jù)可以同時(shí)準(zhǔn)確測(cè)量。
超寬光譜範(fàn)圍：同時(shí)測(cè)量深紫外到近紅外的超過(guò)700個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。
靈活的系統(tǒng)組合：模組化的設(shè)計(jì)使M2000橢偏儀即可以安裝到任何在鍍膜腔體上(in-situ)，進(jìn)行即時(shí)量測(cè)，也可以選擇桌上型電控平臺(tái)基座。
準(zhǔn)確：先進(jìn)的設(shè)計(jì)保證各種樣品都能獲得準(zhǔn)確的橢偏測(cè)量。
可透過(guò)robot整合為線上全自動(dòng)化橢偏儀

多角度寬光譜橢偏儀M-2000 應(yīng)用