多角度寬光譜橢偏儀M-2000-先鋒科技股份有限公司

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產(chǎn)品簡介

M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測的各種需求

詳細介紹

M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測的各種需求。先進的光學(xué)設(shè)計、寬光譜範圍和快速數(shù)據(jù)採集，結(jié)合在一個極其強大和多功能的橢偏儀工具中。 M-2000 橢偏儀提供速度和準確性。
J.A. Woollam獲得的 RCE 技術(shù)將旋轉(zhuǎn)補償器橢偏儀與高速 CCD 檢測相結(jié)合，可在幾分之一秒內(nèi)以多種配置收集整個光譜（數(shù)百個波長）。 M-2000 是款真正擅長從in-situ監(jiān)測和鍍膜過程控製到大面積均勻性量測和表徵薄膜折射率的橢偏儀。沒有其他橢偏儀技術(shù)能夠更快地獲得全光譜橢偏數(shù)據(jù)量測。除此以外，M-2000橢偏儀也具有高度的擴充性，客戶可自行選擇所需的波長範圍，電控平臺大小
多角度寬光譜橢偏儀M-2000 特點

先進的橢偏儀技術(shù)：旋轉(zhuǎn)補償（RCE）技術(shù)的使用，使M-2000獲得了超高的準確性和重複性。
快速光譜探測：RCE設(shè)計結(jié)合先進的CCD探測技術(shù)，使得所有波長點上的數(shù)據(jù)可以同時準確測量。
超寬光譜範圍：同時測量深紫外到近紅外的超過700個數(shù)據(jù)點。
靈活的系統(tǒng)組合：模組化的設(shè)計使M2000橢偏儀即可以安裝到任何在鍍膜腔體上(in-situ)，進行即時量測，也可以選擇桌上型電控平臺基座。
準確：先進的設(shè)計保證各種樣品都能獲得準確的橢偏測量。
可透過robot整合為線上全自動化橢偏儀

多角度寬光譜橢偏儀M-2000 應(yīng)用