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FISCHER菲希爾SR-SCOPE® RMP30-S 詳細(xì)摘要: SR-SCOPE RMP30-S 該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法,十分適合測(cè)量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹(shù)脂等絕緣體隔開(kāi)。SR...
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JX13V雙顯示工具顯微鏡 詳細(xì)摘要: JX13V 雙顯示工具顯微鏡 主顯微鏡配有多種目鏡和物鏡,視場(chǎng)大,成像清晰。 主顯微鏡可左右偏擺,適用于螺旋狀零件測(cè)量。 帶有頂針架、V形支架、分度頭、測(cè)高裝置...
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菲希爾涂鍍層測(cè)厚儀FMP100/150 詳細(xì)摘要: FMP100/150 憑借 DUALSCOPE FMP100 和 FMP150,F(xiàn)ISCHEER可提供高性能手持式測(cè)量?jī)x器,用于zhuan業(yè)涂鍍層厚度測(cè)量中各種...
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MP0/MP0R 菲希爾 詳細(xì)摘要: MP0/MP0R 系列 小巧、方便且穩(wěn)固 MP0 和 MP0R 系列儀器能夠簡(jiǎn)便、快速且無(wú)損地測(cè)量涂層厚度。配有兩個(gè)顯示屏、一個(gè)特別堅(jiān)固的外殼和耐磨損的探頭,它...
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電解涂鍍層測(cè)厚儀CMS2 詳細(xì)摘要: CMS2 COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過(guò)電解退鍍方式測(cè)量鍍層厚度。還可使用庫(kù)侖法精確測(cè)定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對(duì)單...
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德國(guó)菲希爾XUL / XULM 詳細(xì)摘要: XUL / XULM 在電鍍或電子元件生產(chǎn)過(guò)程中需要快速且精確地測(cè)定鍍層厚度時(shí),XUL 系列測(cè)量?jī)x器是您的解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量,能夠在測(cè)...
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德國(guó)菲希爾XDV-μ鍍層厚度測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要: XDV- XDV-型系列儀器是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡,光斑直徑(FWHM)可...
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FISCHER德國(guó)菲希爾GOLDSCOPE 詳細(xì)摘要: GOLDSCOPE FISCHER通過(guò)GOLDSCOPE系列儀器,為無(wú)損的黃金和貴金屬測(cè)試提供定制化解決方案。這些耐用的X射線熒光儀器,其軟硬件均為珠寶黃金行業(yè)...
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FISCHER菲希爾BETASCOPE 詳細(xì)摘要: BETASCOPE 在所有 FISCHER 測(cè)量?jī)x器中,BETASCOPE 可提供zui多的涂鍍層組合。通過(guò) 射線方法,BETASCOPE 無(wú)需依賴于樣品的磁性...
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德國(guó)涂層測(cè)厚儀MMS PC2 詳細(xì)摘要: MMS PC2 模塊化測(cè)量系統(tǒng) FISCHERSCOPE MMS PC2,搭載 Windows CE 操作系統(tǒng),是適用于高精度涂鍍層厚度測(cè)量與材料測(cè)試的理想解決...
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PHASCOPE® PAINT-FISCHER德菲希爾 詳細(xì)摘要: PHASCOPE PAINT 這款方便,筆狀的PHASCOPE PAINT是簡(jiǎn)單快速地測(cè)量鐵基金屬和有色金屬上油漆涂層的理想方案。由于其測(cè)量范圍達(dá)到2500m,...
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FISCHER菲希爾XDV-SDD 詳細(xì)摘要: XDV-SDD XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能zui強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測(cè)器(SDD)。50mm的探測(cè)器窗口確保...
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FISCHER菲希爾 XAN500涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 手持式、臺(tái)式、在線: XAN 500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能zui多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用,也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到...
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德國(guó)菲希爾XDL / XDLM / XDAL 詳細(xì)摘要: XDL / XDLM / XDAL 憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測(cè)量方向,XDL 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及...
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德國(guó)菲希爾FMP10/40涂鍍層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: FMP10/40 FMP10FMP40 系列手持式涂鍍層厚度測(cè)量設(shè)備可提供精確的測(cè)量結(jié)果,多種測(cè)量技術(shù)使其具有高度的靈活性。包括采用磁感應(yīng)測(cè)量 (DELTASC...
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菲希爾涂層測(cè)厚儀PMP10/PMP10 Duplex 詳細(xì)摘要: PMP10/PMP10 Duplex PMP10 與 PMP10 DUPLEX 采用相位敏感測(cè)量技術(shù),適用于測(cè)量粗糙底材上的涂鍍層厚度或鋼上的鍍鎳層厚度。 對(duì)于...
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MX6R正置金相顯微鏡 詳細(xì)摘要: MX6R各項(xiàng)操作根據(jù)人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì),zui大限度減輕操作者的使用疲勞。其模塊化的部件設(shè)計(jì),可對(duì)系統(tǒng)功能進(jìn)行自由組合。涵蓋明場(chǎng)、暗場(chǎng)、斜照明、偏光、DIC微分干涉...
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MX4R正置金相顯微鏡 詳細(xì)摘要: 大行程移動(dòng)工作平臺(tái),長(zhǎng)工作距半復(fù)消色差物鏡,圖像銳利清晰,guang泛應(yīng)用于晶圓、FPD等各項(xiàng)工業(yè)檢測(cè)。 an全、穩(wěn)重的機(jī)架結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 工業(yè)檢測(cè)級(jí)顯微鏡鏡體,低z...
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IE200M倒置金相顯微鏡 詳細(xì)摘要: 操作簡(jiǎn)便,附件齊全,guang泛應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)、地址礦物分析、jingmi工程測(cè)量等領(lǐng)域。 高精度粗微動(dòng)調(diào)焦機(jī)構(gòu) 采用底手位粗微調(diào)同軸...
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ICX41M金相顯微鏡 詳細(xì)摘要: SOPTOP ICX41M 采用全新設(shè)計(jì)的wu限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),可guang泛應(yīng)用于鑄造、冶煉、熱處理的研究,原材料檢驗(yàn)或材料處理分析等多種檢測(cè)的倒置金相顯微鏡。 ...
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