CMS2

COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測(cè)量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測(cè)定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對(duì)單種鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試，以檢測(cè)電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）。

特性：

• 使用準(zhǔn)確性高的電解退鍍技術(shù)（庫侖法），精確地測(cè)量多鍍層的厚度
• 圖形顯示的交互方式，易于操作
• 適用性廣泛：可測(cè)量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測(cè)量多鍍層厚度
• 提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿足特定需求

應(yīng)用：

• 金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層
• 單層或多層的鍍層厚度測(cè)量
• 特別適用于通過 STEP 測(cè)試進(jìn)行多層鎳測(cè)量
• 適用于 0.05 µm 至 40 µm 的鍍層厚度測(cè)量