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熱流儀 PCB 板電子芯片高低溫測(cè)試，應(yīng)用于 PCB 板、電子芯片高低溫測(cè)試。 PCB板、電子芯片在出廠前需要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試，模擬PCB板在氣候環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的...

熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測(cè)試，觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于半導(dǎo)體芯片一種, 廣泛應(yīng)用于如消費(fèi)類電子, 家用電器, 車載觸摸屏, 移動(dòng)終...

日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗(yàn)箱維修，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和...

桌面式接觸式高低溫芯片測(cè)試機(jī)，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)...

高低溫氣體沖擊熱流儀熱流罩 維修服務(wù)，設(shè)備運(yùn)行一段時(shí)間后會(huì)出現(xiàn)一定的污染和老化，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)行不穩(wěn)定，從而影響制冷的效率，進(jìn)行設(shè)備大保養(yǎng)是為了保證設(shè)備運(yùn)行...

高加速老化試驗(yàn)箱HAST，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條...

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HAST高加速老化試驗(yàn)箱維修，是一種環(huán)境應(yīng)力測(cè)試設(shè)備。它通過模擬產(chǎn)品在長時(shí)間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力，如極低的溫度、振動(dòng)和電壓等，以測(cè)試產(chǎn)品的可靠...

接觸式高低溫氣流循環(huán)沖擊系統(tǒng)三溫測(cè)試臺(tái)，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流...

HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力...

ThermalAir熱流儀維修服務(wù)，設(shè)備運(yùn)行一段時(shí)間后會(huì)出現(xiàn)一定的污染和老化，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)行不穩(wěn)定，從而影響制冷的效率，進(jìn)行設(shè)備大保養(yǎng)是為了保證設(shè)備運(yùn)行狀...

Espec日本愛思佩克高加速老化HAST維修，是一種環(huán)境應(yīng)力測(cè)試設(shè)備。它通過模擬產(chǎn)品在長時(shí)間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力，如極低的溫度、振動(dòng)和電壓等，...

日本平山HAST高加速壽命試驗(yàn)箱維修，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:...