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接觸式氣流儀高低溫沖擊測試設(shè)備ATC系列,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣...
HAST測試系統(tǒng)高加速老化試驗(yàn)箱。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上,由于離子化金屬向相反電極移動,在相對電極還原成原來的金屬并有析出的現(xiàn)象。此現(xiàn)象的發(fā)生是由于在...
HAST測試機(jī)高加速老化PCB老化試驗(yàn)箱,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕...
HAST高加速壽命試驗(yàn)箱深度清潔保養(yǎng) 維修,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...
HAST高加速老化RF射頻芯片HAST測試,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...
HAST芯片可靠性分析壽命失效性測試機(jī),HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...
HAST高加速老化試驗(yàn)箱維修,是一種環(huán)境應(yīng)力測試設(shè)備。它通過模擬產(chǎn)品在長時間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力,如極低的溫度、振動和電壓等,以測試產(chǎn)品的可靠...
半導(dǎo)體芯片HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:...
ThermalAir快速循環(huán)溫度沖擊系統(tǒng) 維修服務(wù),設(shè)備運(yùn)行一段時間后會出現(xiàn)一定的污染和老化,嚴(yán)重時會導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)行不穩(wěn)定,從而影響制冷的效率,進(jìn)行設(shè)備大保養(yǎng)是為...
日本平山HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱維修,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度...
熱流儀 Keysight功率器件高低溫測試,高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測試。
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高加速老化試驗(yàn)箱HAST,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條...
HAST非飽和高溫加速壽命老化試驗(yàn)機(jī),HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:...
高低溫循環(huán)沖擊機(jī),是一臺精密的高低溫沖擊氣流儀,具有更GUAN泛的溫度范圍-80℃到+225℃,提供了很強(qiáng)的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間...
ThermalAir熱流儀維修服務(wù),設(shè)備運(yùn)行一段時間后會出現(xiàn)一定的污染和老化,嚴(yán)重時會導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)行不穩(wěn)定,從而影響制冷的效率,進(jìn)行設(shè)備大保養(yǎng)是為了保證設(shè)備運(yùn)行狀...
HAST 環(huán)境模擬老化壽命測試箱,HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力...
zonglen接觸式高低溫芯片測試機(jī),接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣流式...
桌面式接觸式高低溫芯片測試機(jī),接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)...
熱流儀搭配液晶顯示屏測量高低溫系統(tǒng)試驗(yàn),ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學(xué)檢測設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor...
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