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產(chǎn)品型號zonglen
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地成都市
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更新時間:2024-12-31 16:39:43瀏覽次數(shù):200次
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HAST高加速老化RF射頻芯片HAST測試
HAST高加速老化RF射頻芯片HAST測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條件來完成的,這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試,HAST增加了容器內(nèi)的壓力,使得可以實(shí)現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制,能夠加速溫濕度的老化效果。
HAST高加速老化RF射頻芯片HAST測試
用于評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。該試驗(yàn)檢查芯片長期貯存條件下,高溫和時間對器件的影響。本設(shè)備適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測試階段的HAST測試需求,僅針對非密封封裝(塑料封裝),帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測試。
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更安全,內(nèi)膽圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水,符合國家安全容器規(guī)范
多重保護(hù)功能,兩道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Wo(hù)、超壓保護(hù)
穩(wěn)定性更高:內(nèi)置自研PID控制算法,確保溫度、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度
濕度自由選擇:飽和與非飽和自由設(shè)定
智能化高:USB數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存
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