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TG-300 一體兩用涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: TG-300 一體兩用涂層測(cè)厚儀一體兩用涂層測(cè)厚儀TG-300介紹:TG-300涂層測(cè)厚儀是具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。其技術(shù)參數(shù)*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2020-08-07 參考價(jià): 面議 在線留言 -
TG-400 分體兩用涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: TG-400 分體兩用涂層測(cè)厚儀分體兩用涂層測(cè)厚儀TG-400介紹:TG-400涂層測(cè)厚儀是具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。其技術(shù)參數(shù)*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。...
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TG-200 涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: TG-200 涂層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀原理:測(cè)量方法應(yīng)用場(chǎng)合例如(F型)磁感應(yīng)法測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度如鋁、鐵、合金和硬磁性鋼上的鉻,琺瑯,橡膠,油...
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菲希爾Fischer MP0/MP0R 系列涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer MP0/MP0R 系列涂層測(cè)厚儀小巧、方便且穩(wěn)固MP0 和 MP0R 系列儀器能夠簡(jiǎn)便、快速且無(wú)損地測(cè)量涂層厚度。配有兩個(gè)顯示屏、一個(gè)特別...
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菲希爾 Fischer PHASCOPE PAINT涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾 Fischer PHASCOPE PAINT涂層測(cè)厚儀這款方便,筆狀的PHASCOPEPAINT是簡(jiǎn)單快速地測(cè)量鐵基金屬和有色金屬上油漆涂層的理想方案。...
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菲希爾Fischer FMP10/40涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer FMP10/40涂層測(cè)厚儀FMP10FMP40 系列手持式涂鍍層厚度測(cè)量設(shè)備可提供精確的測(cè)量結(jié)果,多種測(cè)量技術(shù)使其具有高度的靈活性。包括采...
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菲希爾Fischer MMS PC2臺(tái)式涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer MMS PC2臺(tái)式涂層測(cè)厚儀模塊化測(cè)量系統(tǒng) FISCHERSCOPE MMS PC2,搭載 Windows CE 操作系統(tǒng),是適用于高精度...
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菲希爾Fischer PMP10/PMP10 Duplex涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer PMP10/PMP10 Duplex涂層測(cè)厚儀PMP10 與 PMP10 DUPLEX 采用相位敏感測(cè)量技術(shù),適用于測(cè)量粗糙底材上的涂鍍層...
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菲希爾Fischer XAN500涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer XAN500涂層測(cè)厚儀手持式、臺(tái)式、在線: XAN500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能.多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用,...
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菲希爾Fischer FMP100/150涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer FMP100/150涂層測(cè)厚儀憑借 DUALSCOPEFMP100 和 FMP150,F(xiàn)ISCHEER可提供高性能手持式測(cè)量?jī)x器,用于專業(yè)...
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菲希爾Fischer SR-SCOPE RMP30-S涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer SR-SCOPE RMP30-S涂層測(cè)厚儀該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法,十分適合測(cè)量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通...
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菲希爾Fischer XDL/XDLM/XDAL臺(tái)式X射線熒光涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer XDL/XDLM/XDAL臺(tái)式X射線熒光涂層測(cè)厚儀憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測(cè)量方向,XDL系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提...
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菲希爾Fischer XDV-SDD臺(tái)式X射線熒光涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 菲希爾Fischer XDV-SDD臺(tái)式X射線熒光涂層測(cè)厚儀XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能.強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探...
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