GCMS-TQ8030  三重四極桿氣質(zhì)聯(lián)用儀 日本島津  

實現(xiàn)「更迅速」、「更準確」、「更順暢」分析的三重四極桿型氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀就是“GCMS-TQ8030”。集結(jié)了zui*UF技術。

高靈敏度?高選擇性

? 島津*的離子源獲得更高靈敏度

? *的OD Lens技術有效降低中性噪聲

? 豐富多彩的測定模式實現(xiàn)更高選擇性

GC/MS/MS的MRM測定

GC/MS可以通過保留時間和質(zhì)譜圖進行化合物確認。經(jīng)常被用于痕量物質(zhì)的分析。然而在復雜基質(zhì)中這項工作變得非常困難。GC/MS/MS提供的多反應監(jiān)測模式（MRM）對離子進行兩步電離。選擇性明顯優(yōu)于GCMS。在復雜基質(zhì)樣品中，即使目標化合物不能通過Scan或SIM模式獲得結(jié)果，使用MRM模式可以清晰地被檢測出來。例如，分析食品中的殘留農(nóng)藥。

基于單GC-MS方式的高靈敏度分析

GCMS-TQ8030采用高靈敏度離子源以及OD透鏡，可以高效、選擇性地檢測生成的離子。不僅是基于GC/MS/MS的MRM測定，而且，在GC/MS的SCAN以及SIM測定中也實現(xiàn)了高靈敏度。

快速性能

? 碰撞室采用*UＦsweeper技術，MRM速度達600 通道/秒

? 20,000 u/秒快速掃描并配備ASSP技術

? 支持Scan/MRM同時掃描，信息更加豐富

UFsweeper高效去除碰撞室中的產(chǎn)物離子

UFsweeper為島津*技術，將碰撞室的所需長度減至zui小限度，實現(xiàn)CID高效率和離子的快速傳輸。通過形成如下圖顯示的模擬電位，進入碰撞室內(nèi)的離子被連續(xù)快速去除，即使在快速測定中也可以有效抑制信號強度下降以及串擾問題的發(fā)生。

基于ASSP™技術的快速掃描分析

作為提高實驗室效率、實現(xiàn)更高度的數(shù)據(jù)解析的方法，人們期待著利用Fast-GC/MS法提高分析效率、以Scan與SIM或Scan/MRM同時測定進行準確的化合物定性/定量解析，這就要求質(zhì)譜儀具有超越以往的快速性能。

GCMS-TQ8030的內(nèi)部硬件設計配備了在全掃描過程中優(yōu)化離子傳輸速度的設計。這種技術稱之為高速掃描控制技術 （ASSP™），是在高達20,000u/秒高速采集時獲得高質(zhì)量質(zhì)譜圖的關鍵。

對應快速MRM測定

Fast-GC/MS的峰洗脫時間非常短，峰尖銳，需要進行快速MRM測定。20,000u/秒的高速掃描能力和Ufsweeper技術使得快速MRM成為可能

下圖為600 通道/秒時進行的13種藥品的Fast-GCMS測定的譜圖。

輕松自如的操作性與設計

? AART功能自動校正MRM保留時間

? Easy sTop功能減少維護時的停機時間

? 兼?zhèn)湓O計性與功能性的裝置設計

Easy sTop 大幅縮短裝置的維護時間

方法文件與GCMS-QP2010系列匹配