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    中國(guó)臺(tái)灣中澤股份有限公司
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    當(dāng)前位置:中國(guó)臺(tái)灣中澤股份有限公司>>膜厚計(jì)>> PCB_thicknessPCB專用銅厚測(cè)式儀

    PCB專用銅厚測(cè)式儀

    參  考  價(jià)面議
    具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

    產(chǎn)品型號(hào)PCB_thickness

    品       牌

    廠商性質(zhì)其他

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    更新時(shí)間:2023-11-05 14:11:33瀏覽次數(shù):365次

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    產(chǎn)品敘述膜厚量測(cè)儀英國(guó)牛津儀器OXFORDCMI760(MRX):高靈敏度銅厚測(cè)試儀牛津儀器CMI700MRX系列銅膜厚測(cè)試儀為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量與質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)
    產(chǎn)品敘述

    膜厚量測(cè)儀

    英國(guó)牛津儀器OXFORD

    CMI 760(MRX):高靈敏度銅厚測(cè)試儀

    牛津儀器 CMI700MRX系列銅膜厚測(cè)試儀為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量與質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
    CMI760可用于測(cè)量表面銅和貫穿孔內(nèi)同厚度。
    這款高擴(kuò)展性的桌上型測(cè)厚儀系統(tǒng)採(cǎi)用微電阻和渦電流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅與貫穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。

    膜厚量測(cè)儀

    A.SRP-4
    主要用途:面銅厚度量測(cè)
    測(cè)試原理:採(cǎi)用Micro-resistance mode
    測(cè)試範(fàn)圍:化學(xué)銅10μin-500μin(0.25μm-12.7μm)
    電鍍銅0.1mil-12mil(2.5μm-300μm)
    測(cè)量限制:最小測(cè)試寬度0.8mm(0.031inch)x長(zhǎng)度25mm(1inch)
    測(cè)頭材質(zhì):銅合金
    解 析 度:0.01mils≧1mil、0.001mils<1mil、0.1um≧10um
    0.01um<10um、0.001um<1um
    準(zhǔn) 確 度:±3%參考比對(duì)片

    B.ETP
    主要用途:孔銅厚度量測(cè)(蝕刻前一銅、二銅及蝕刻後孔銅)
    測(cè)試原理:採(cǎi)用Eddy-current mode
    遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
    測(cè)試範(fàn)圍:0.08~4.0mil
    最小孔徑:35mil
    解 析 度:0.01mils(0.25um)
    準(zhǔn) 確 度:±3%參考比對(duì)片

    TRP-1A/S(標(biāo)準(zhǔn))測(cè)頭:
    主要用途:孔銅厚度量測(cè)(蝕刻後)
    測(cè)試原理:採(cǎi)用Micro-resistance mode
    測(cè)試範(fàn)圍:0.08~4.5mil
    測(cè)量限制:孔徑上、下限20~185mil(0.5~4.6mm)
    板厚限制:最小板厚要大於孔徑3mil,板厚175mil


    TRP-1A/M(微)測(cè)頭
    主要用途:孔銅厚度量測(cè)(蝕刻後)
    測(cè)試原理:採(cǎi)用Micro-resistance mode
    測(cè)試範(fàn)圍:0.5~2.5mil
    測(cè)量限制:孔徑上、下限10~40mil(0.25~1mm)
    板厚限制:最小板厚要大於孔徑3mil,板厚175mil

    CMI563:手持式面銅厚度測(cè)試儀

    牛津儀器 CMI563 系列表面銅測(cè)厚儀專位測(cè)量剛性及柔性、單層及雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔測(cè)厚儀器。

    膜厚量測(cè)儀

    微電阻測(cè)試原理:
    微電阻測(cè)試技術(shù)利用四根接觸式探針在表面銅箔上產(chǎn)生電信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。
    SRP-4探頭採(cǎi)用四根設(shè)計(jì)、堅(jiān)韌耐用的探針(牛津儀器的產(chǎn)品)以保證高精確度、小接觸面積和最小的測(cè)量表面積。
    探針可通過透明材質(zhì)的外殼看到,使客戶能夠精確的定位測(cè)試位置。
    探針採(cǎi)用高耐用性的合金以抵抗折斷和磨損。
    當(dāng)探頭接觸銅箔樣品時(shí),恆定電流通過外側(cè)兩根探針,而內(nèi)側(cè)兩根探針測(cè)得該電電壓的變化值。根據(jù)歐姆定律,電壓值被轉(zhuǎn)換為電阻值,利用一定的函數(shù),計(jì)算出厚度值。微電阻測(cè)試技術(shù)為銅箔應(yīng)用提供了高準(zhǔn)確度的銅厚測(cè)量。

    規(guī)格說明:
    準(zhǔn) 確 度:±3%(±0.3um)參考比對(duì)片
    精 確 度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2%
    電 鍍 銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.5%
    分 辨 率:0.01mils≧1mil
    0.001mils<1 mil,0.1um≧10um
    0.01um<10um,0.001um<1um

    測(cè)量厚度範(fàn)圍:
    化 學(xué) 銅:10uin-500uin
    電 鍍 銅:0.1mil-6mil
    線型銅線寬度:8mil-250mil
    儲(chǔ)存數(shù)據(jù):13500筆
    尺  寸:5X3X1(英吋)
    重  量:260克(包括電磁)
    單  位:mil、um
    電  池:9伏電池
    連 接 阜:RS-232,傳輸至印表機(jī)或電腦
    顯  示:4位LCD液晶顯示
    統(tǒng)計(jì)顯示:測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差、平均值、值、最小值
    電腦下載:通過一個(gè)按鍵直接將數(shù)據(jù)傳輸至電腦

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