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詳細介紹
小板（KOSAKA） LAB SEF 3500(表面粗糙度輪廓測定機)
Surfcorder SEF 3500 表面粗糙度輪廓一體機，可進行高精度，高水平分析和多功能粗糙度輪廓測量。操作簡單，顯示一目了然。
特點：
*高精度表面粗糙度輪廓測定機，一機兩用，可進行表面粗糙度和輪廓形狀測量。
*配備有符合ISO,DIN,ANSI,JIS 標準的五十多種評價參數。
*一個寬范圍，高分辨率的檢測器，提供了在同類產品中更*的高精度測量。
*通過簡單的一次性操作，可更換形狀、輪廓、測定裝置與表面粗糙度測量裝置，并不必對
電纜重新布線。
*配有易于操作的操作桿，選定需要操作的軸，即可實現任何的移動。
*SEF 3500 配有X 軸全程光柵尺，可提高寬/窄范圍測量精度和Z 軸的分辨率，提供更穩(wěn)定
的量測數據。
*的真直度保證。
*驅動裝置可以任意傾斜45 度，更方便不規(guī)則樣品的量測。
規(guī)格：
粗糙度測定
測定參數：多達五十多種，見產品目錄。
放大倍率：縱50-500000，橫1-5000。
測定范圍：縱600um,橫100mm。
記錄項目：測定值，測定條件，日期時間，輸入資料（各種文字及圖形資料）。
評價長度：0.25,0.8,2.5,8,25,80mm/任意值（0.2mm 以上）
/λc x1，x2，x3，x4，x5。
驅動速度：0.05，0.1，0.2，0.5，1，2 mm/s，高速移動，5，10mm/s 及手動。
切斷值（cut-off）:
切斷值（cut-off）:
粗度：λc 0.025，0.08，0.25，0.8，2.5，8 mm，無cut-off。
波紋度：fl 0.8,2.5,8,25mm,fh 0.08,0.25,0.8,2.5mm。
濾波方式：高斯（Gauss），2CR，特殊高斯。
資料點/分解能：32000 點/16 位元。
自動水平：最小二乘法，二點法，R 曲面補正，二次曲線補正。
輔助功能：最自由排列組合記錄，記錄圖刻劃，平均處理，統計處理，中途終止，測定
再演算，檢出器登記，注解記錄，自動感度校正，mm/inch 單位切換，自動測定，部分
處理，圖形放大縮小。
檢出器上下動作：檢出器上下范圍250mm。
自動停止精度±0.2um/100mm。（靴片使用時）
X 軸真直度精度：0.2um/100mm。
檢出器：觸針R2um 鉆石頭，測定力0.7mN。
輪廓測定
解析項目：
排列：原點移動，回轉，反轉，移動。
要素解析：點，線，圓，山，谷，交點，中點，接點，反轉。
刻劃量：坐標差，距離，夾角。
放大倍率：縱橫1-200 倍。
測量精度：X: (1.0+0.02L)um L=Measuring Length(mm)
Z: ±0.25%(Our Standard) H=Z Displacement(mm)
測定范圍：縱50mm，橫100mm。
驅動速度：0.02，0.05,0.1,0.2,0.5,1,2mm/s。高速移動2,10mm/s 及手動。
資料數：64,000 點。
補助機能：自由排列組合記錄，記錄圖刻劃，巨集功能，圖形放大縮小，數位圓弧補償，過
負荷防止，跳動上下，正反兩方向測定。
檢出器上下動作范圍：200mm。
真直度精度：1um/100mm。
檢出器：R25um,10-30mN,追隨角度：爬升77 度，下坡87 度。
共同規(guī)格：
測定臺：(含支柱Column)：測定臺W600 x D315 mm，承載重量70kg，花崗巖材質。
傾斜調整臺：承載面積 160 x 50 mm，V 溝槽(測定方向)。
水平傾斜±3°，垂直傾斜±3°Y 方向移動量±3 mm。
裝置尺寸：測定部：W1,500 x D850mm /約80kg
解析部約30kg
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