詳細(xì)介紹
Zeiss VAST SCANNING PROBE 快速連續(xù)性掃瞄式探頭
隨著科技不斷地創(chuàng)新,產(chǎn)品壽命周期逐漸縮短,進(jìn)而加速產(chǎn)品研發(fā)速度,所以企業(yè)為提昇競(jìng)爭(zhēng)力,爭(zhēng)取客戶與訂單,加強(qiáng)內(nèi)部製程與研發(fā)能力就成為一項(xiàng)必須的課題;其中,針對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)管制系統(tǒng)而言,的輔佐工具不外乎三次元量測(cè)系統(tǒng),如果工廠內(nèi)部能夠擁有一臺(tái)精度穩(wěn)定而且軟體操作快速方便的三次元量測(cè)系統(tǒng),無疑增添一項(xiàng)競(jìng)爭(zhēng)利器。
VAST 是 ZEISS 一代智慧性的掃描式探頭系統(tǒng),它可依工件精度及量測(cè)速度不同,自動(dòng)變化掃描量測(cè)速度。同時(shí), VAST 可從事一般單點(diǎn)式量測(cè),動(dòng)態(tài)掃描及靜態(tài)掃描等應(yīng)用,所以可以量測(cè)獲取工件幾何尺寸及已知形狀及未知形狀的檢驗(yàn)。
也因?yàn)?VAST 採(cǎi)取的是主動(dòng)式的掃描量測(cè)方式,所以更能真實(shí)的呈現(xiàn)工件的表面狀況。同時(shí),由於 VAST 的設(shè)計(jì),更突破傳統(tǒng)的量測(cè)範(fàn)疇,不但能使用一般的探針,更可搭配使用溫度感應(yīng)器及表面粗度量測(cè)探針,讓工廠自動(dòng)化量測(cè)的目標(biāo)更進(jìn)一步的落實(shí)。
★Zeiss VAST SCANNING PROBE規(guī)格表
量測(cè)方向 | + X , + Y , + Z | |
取點(diǎn)方式 | 單點(diǎn)取點(diǎn) / 連續(xù)掃瞄 | |
取點(diǎn)速度 | 單點(diǎn)取點(diǎn) | 2s / point |
連續(xù)掃瞄 | 200pts / s | |
掃瞄範(fàn)圍 | Up to + 1.0mm | |
探頭取點(diǎn)量測(cè)力量 | 0.05N-1N( 量測(cè)壓力可自行調(diào)整 ) | |
探頭位移量 | VAST | + 5mm |
VAST-XT | + 2mm | |
探頭可接受探針重量 | VAST | 600g |
VAST-XT | 300g | |
探頭可接受探針長(zhǎng)度 ( 單一探針 ) | VAST | 450mm |
VAST-XT | 300mm | |
自動(dòng)更換探頭系統(tǒng) | 選擇性配件 | |
自動(dòng)更換探頭系統(tǒng)重現(xiàn)精度 | 1um |