高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)，鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。

高低溫測(cè)試箱是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫或低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性的方法。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫或低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。高低溫測(cè)試英文名稱High and low temperature test

高低溫試驗(yàn)是高溫試驗(yàn)和低溫試驗(yàn)的的簡(jiǎn)稱，試驗(yàn)?zāi)康氖窃u(píng)價(jià)高低溫條件對(duì)裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能影響。高低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)實(shí)施、試驗(yàn)步驟在GJB 150.3A一2009《裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》與GJB 150.4A—2009《裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》中都有詳細(xì)的規(guī)定。

高低溫測(cè)試箱設(shè)備參數(shù)

1。試驗(yàn)設(shè)備

高溫試驗(yàn)一般是將產(chǎn)品置于恒溫箱或恒溫室內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)。介質(zhì)的溫度用溫度計(jì)在不同位置測(cè)定，取其算術(shù)平均值。但要求箱內(nèi)溫度盡可能均勻，通過(guò)熱空氣流動(dòng)加熱產(chǎn)品，不應(yīng)使試驗(yàn)樣品靠近熱源。為減少輻射影響，試驗(yàn)箱的壁溫不應(yīng)高于環(huán)境溫度3%。

低溫試驗(yàn)一般在低溫箱（室）內(nèi)進(jìn)行，其溫度一般靠人工制冷的方法獲得。在低溫箱的有效工作空間內(nèi)，用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持低溫條件的均勻性。

2。試驗(yàn)參數(shù)

按地區(qū)和使用場(chǎng)合不同，GB2423·1一81和GB2423·2—81分別規(guī)定了不同溫度等級(jí)的優(yōu)先數(shù)值。

低溫環(huán)境溫度：一65℃，一55"C，一45"C，一40℃，一30℃，一25℃，一15℃，一10℃，一5℃，0℃，+5℃；

高溫環(huán)境溫度：+200℃，+17S℃，+155℃，+125℃，+100℃，+8S℃，+70℃，+65℃，+60℃，+55℃，+50℃，+45℃，+40℃，+3S℃，+30℃。

溫度的允許偏差范圍均為±2℃。

在試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，高、低溫條件試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間根據(jù)需要從下列數(shù)據(jù)中選取：2、16、72、95（h）