ZEISS METROTOM-三維掃描儀-馬爾軟件技術(shù)開發(fā)（上海）有限公司

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詳細(xì)介紹

ZEISS METROTOM

用于質(zhì)量保證的三維 X 射線測(cè)量技術(shù)

基于蔡司METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)精確性的高要求。

ZEISS METROTOM創(chuàng)新技術(shù)

第三代新款蔡司METROTOM 1500-面向未來的質(zhì)量控制——今天

蔡司METROTOM系列一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500地證明了*可靠的X射線技術(shù)不再是未來的愿景。今天，您可以使用面向未來的質(zhì)量控制。

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第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）系統(tǒng)

蔡司METROTOM 1500地證明了*可靠的X射線技術(shù)不再是未來的愿景。今天，您可以使用面向未來的質(zhì)量控制。

ZEISS METROTOM特性

看得更多。

在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測(cè)器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測(cè)到更小的缺陷。

掃描更快。

通過檢測(cè)器的不同操作模式，掃描時(shí)間可減少多達(dá)75％，同時(shí)獲得與2k檢測(cè)器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。

測(cè)量與檢驗(yàn)整體部件

蔡司METROTOM是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，用于測(cè)量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統(tǒng)測(cè)量機(jī)測(cè)量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。

輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測(cè)

利用蔡司METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測(cè)量結(jié)果非常精確，且具可追溯性。和接觸式測(cè)量方法不同，蔡司METROTOM 獲取海量測(cè)量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。

直觀簡易的軟件操作

僅需通過短時(shí)間的蔡司METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對(duì)零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。通過蔡司CALYPSO和NEO軟件，您可以評(píng)估CT數(shù)據(jù)，通過蔡司PiWeb，它們可以在一個(gè)測(cè)量報(bào)告中快速合并。