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詳細(xì)摘要： 簡介：手持式、臺式、在線： XAN500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生...

詳細(xì)摘要： 簡介：模塊化測量系統(tǒng) FISCHERSCOPE MMS PC2，搭載 Windows CE 操作系統(tǒng)，是適用于高精度涂鍍層厚度測量與材料測試的理想解決方案。具備...

詳細(xì)摘要： 簡介：COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。

詳細(xì)摘要： 簡介：FISCHER通過GOLDSCOPE系列儀器，為無損的黃金和貴金屬測試提供定制化解決方案。這些耐用的X射線熒光儀器，其軟硬件均為珠寶黃金行業(yè)而設(shè)計。

詳細(xì)摘要： 簡介：德國菲希爾 XAN 系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測量。該系列產(chǎn)品簡單易用且性價比高，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

詳細(xì)摘要： 簡介：德國菲希爾憑借電機驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種...

詳細(xì)摘要： 簡介：XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm2的探測器窗口確保能快速而精確地...

詳細(xì)摘要： 簡介：德國菲希爾XDV-μ型系列儀器是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FW...

詳細(xì)摘要： 簡介：XUV 系列設(shè)備的真空測量室能夠通過 X 射線熒光分析 (RFA) 檢測原子序數(shù)從Na（11）開始的輕元素。由于空氣會吸收輕元素的熒光X射線，因此在大氣環(huán)...

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詳細(xì)摘要： 簡介：在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時，XUL® 系列測量儀器是您的解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上...