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當前位置：沈陽科晶自動化設備有限公司>>橢偏儀>> SE-i 光譜橢偏儀
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌 沈陽科晶/KEJING
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地
聯(lián)系方式：張先生查看聯(lián)系方式
更新時間：2021-03-15 15:57:25瀏覽次數(shù)：317次
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產(chǎn)品簡介：光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀，針對有機/無機鍍膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測中的定制化開發(fā)，快速實現(xiàn)光學薄膜原位表征分析。光譜橢偏儀廣泛應用于金屬薄膜、有機薄膜、無機薄膜的物理/化學氣相沉積，ALD沉積等光學薄膜工藝過程中實際原位在線監(jiān)測并實時反饋測量物性數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品型號 | SE-i 光譜橢偏儀 |
技術參數(shù) | 1、自動化程度：固定變角 2、應用定位：原位定制型 3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S等光譜 4、分析光譜：380-1000nm，支持按需定制化 5、單次測量時間：0.5-5s 6、重復性測量精度：0.01nm 7、入射角范圍：65°（支持定制） |
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