即便 在很大的工作中間距下也可以完成生態(tài)性-間距燈源mm到英尺

運(yùn)用ZEISSXradia510Versa三維X射線光學(xué)顯微鏡(XRM)完成新的發(fā)覺(jué)水準(zhǔn)，XRM是業(yè)內(nèi)的原點(diǎn)/2D解決方法。大家與眾不同的RaaD(長(zhǎng)距離分辨率)作用擺脫了mm到公分試品的一微米分辨率天然屏障。

該儀器設(shè)備將分辨率和飽和度與靈便的工作中間距完*融合，以擴(kuò)張?jiān)囼?yàn)室中的高質(zhì)量顯像工作能力。

從源到mm到英尺的真正亞微米室內(nèi)空間分辨率:

Xradia510Versa可*大限度地充分發(fā)揮X射線光學(xué)顯微鏡(XRM)的作用，可在各種各樣科學(xué)研究自然環(huán)境中完成靈便的三維顯像。Xradia510Versa的真正室內(nèi)空間分辨率好于0.7μm，可完成的體素規(guī)格小于70nm。根據(jù)優(yōu)秀的消化吸收飽和度和自主創(chuàng)新的相位差比照，感受柔性或低Z原材料的生態(tài)性，擺脫了傳統(tǒng)式電子計(jì)算機(jī)斷層掃描儀的局限。

完成超過(guò)micro-CT的特性，并將科研拓展到平板系統(tǒng)的極限以外。傳統(tǒng)式的層析成像取決于單極變大倍數(shù)，XradiaVersa儀器設(shè)備選用根據(jù)同歩網(wǎng)絡(luò)加速器-規(guī)格自準(zhǔn)直的與眾不同兩環(huán)節(jié)全過(guò)程，其監(jiān)測(cè)系統(tǒng)對(duì)于分辨率，飽和度和大工作中間距下的高分辨率開(kāi)展了提升。憑著長(zhǎng)距離ZEISS分辨率(RaaD)，您能夠?qū)τ诟鞣N各樣運(yùn)用和試品種類完成沒(méi)有的根據(jù)試驗(yàn)室的探尋。

非毀滅性X射線和靈便的多長(zhǎng)短放縮作用使您可以在各種各樣變大倍數(shù)下對(duì)同一樣版開(kāi)展顯像。2D/原點(diǎn)解決方法，依靠XradiaVersa，您能夠在原生態(tài)自然環(huán)境中與眾不同地定性分析原材料的外部經(jīng)濟(jì)構(gòu)造，并科學(xué)研究特性隨時(shí)間的演化。可選擇的Versa原點(diǎn)模塊容許您提升設(shè)定，簡(jiǎn)單化實(shí)際操作并出示迅速的結(jié)果時(shí)間，機(jī)構(gòu)適用當(dāng)場(chǎng)鉆探機(jī)(如走線和管路)的設(shè)備，以完成*大的顯像特性和便捷性。

除此之外，Scout-and-Scan自動(dòng)控制系統(tǒng)根據(jù)根據(jù)秘方的設(shè)定完成了高效率的工作內(nèi)容自然環(huán)境，使Xradia510Versa便于為具備各種各樣工作經(jīng)驗(yàn)水準(zhǔn)的客戶出示便捷。

優(yōu)點(diǎn)：

XradiaVersa構(gòu)架選用二級(jí)變大技術(shù)性，使您可以在遠(yuǎn)方(RaaD)與眾不同地完成分辨率。在一階段，根據(jù)幾何圖形變大倍率變大樣版圖象，與傳統(tǒng)式的微CT一樣。在第二階段，閃動(dòng)體將X射線轉(zhuǎn)化成能見(jiàn)光，隨后電子光學(xué)變大。降低對(duì)幾何圖形放大率的依靠使XradiaVersa儀器設(shè)備可以在很大的工作中間距內(nèi)維持亞微米分辨率。這使您可以合理地科學(xué)研究*普遍的樣本數(shù)，包含在原點(diǎn)房間內(nèi)。除此之外，各種各樣可選作用拓展了系統(tǒng)核心構(gòu)架所產(chǎn)生的益處。

應(yīng)用非毀滅性三維顯像保存并拓展有使用價(jià)值試品的應(yīng)用

應(yīng)用與眾不同的Versa光學(xué)顯微鏡設(shè)計(jì)方案，在間距燈源*大工作中間距完成*高分辨率，它是原點(diǎn)和大樣版顯像的前提條件

在寬范疇的放大率下，同樣試品的多長(zhǎng)短限度顯像，<0.7μm真正室內(nèi)空間分辨率和小于70nm體素規(guī)格。

領(lǐng)域L跑的2D和當(dāng)場(chǎng)作用，適用各種各樣當(dāng)場(chǎng)鉆探機(jī)，用以具體規(guī)格試品(mm到英尺)的亞微米顯像，凈重可以達(dá)到25kg，試品規(guī)格可以達(dá)到300mm

與眾不同的雙極變大構(gòu)架，可根據(jù)好幾個(gè)變大監(jiān)測(cè)系統(tǒng)輕輕松松導(dǎo)航欄，根據(jù)全自動(dòng)多一點(diǎn)斷層掃描儀和反復(fù)掃描儀持續(xù)實(shí)際操作，及其髙速?gòu)?fù)建

低Z原材料和皮下組織的高級(jí)消化吸收和相映

Scout-and-Scan™自動(dòng)控制系統(tǒng)，便于應(yīng)用的工作內(nèi)容設(shè)定，是多客戶自然環(huán)境中的理想化挑選

少必須試品制取

可選擇的VersaInSituKit可機(jī)構(gòu)適用自然環(huán)境室(如走線和管路)的設(shè)備，以完成*佳顯像特性和簡(jiǎn)單化設(shè)定

Autoloader選擇項(xiàng)使您能夠一次程序編寫(xiě)和運(yùn)作高達(dá)14個(gè)試品，進(jìn)而*大限度地提升 生產(chǎn)率，完成高容掃描儀的自動(dòng)化技術(shù)工作內(nèi)容。