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    表面粗糙度測量掃描儀 Leica DCM8

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    更新時(shí)間:2020-08-12 10:12:35瀏覽次數(shù):309

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    表面粗超度測量掃描儀 Leica DCM8Leica DCM8采用了的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。 設(shè)計(jì)用于提高您的工作效率,它是一款融合了高

    詳細(xì)介紹



    表面粗超度測量掃描儀 Leica DCM8
    Leica DCM8采用了的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。 設(shè)計(jì)用于提高您的工作效率,它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)優(yōu)點(diǎn)的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇,精密軟件、無移動(dòng)部件的高分辨率共聚焦...
      
     
           Leica DCM8采用了的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。設(shè)計(jì)用于提高您的工作效率,它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)優(yōu)點(diǎn)的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇,精密軟件、無移動(dòng)部件的高分辨率共聚焦掃描技術(shù)確保用戶實(shí)現(xiàn)超快速的分析操作。可通過各種規(guī)格的徠卡物鏡、電動(dòng)載物臺(tái)和鏡筒來對系統(tǒng)進(jìn)行配置,以便*適用于您的樣本。為滿足客戶的文檔創(chuàng)建需求,徠卡DCM8包括1個(gè)高清CCD攝像頭和4個(gè)LED光源(RGB和白色)能夠提供鮮明的真彩成像效果。

    不管您是用于生產(chǎn)用途還是研究用途,Leica DCM8均能夠提供您所需要的精確、且可重復(fù)的測量分析結(jié)果,以便實(shí)現(xiàn)材料性能的優(yōu)化。


    具有的精確度和可重復(fù)性

    您所查看的產(chǎn)品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復(fù)雜的形貌?使用高清共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)2納米的垂直分辨率。您所查看的產(chǎn)品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可從以下三種干涉測量模式中選擇:垂直掃描干涉測量(VSI);相移干涉測量(PSI)或者適用于分辨率高達(dá)0.1納米的擴(kuò)展相移干涉測量(ePSI)。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像,則Leica DCM8可提供明視場模式和暗視場模式。




    快速捕捉表面數(shù)據(jù)

    Leica DCM8采用創(chuàng)新性高清微顯示掃描技術(shù)。由于傳感器頭部未使用運(yùn)動(dòng)部件,因此設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)快速和可重現(xiàn)的捕捉數(shù)據(jù)。集成式高清CCD攝像頭具有較大的視場,能夠觀察較大的樣本面積。對于具有較大面積區(qū)域的樣本來說,為獲得無縫和精確的模型,只需要選擇超快XY地形拼接模式即可。




    能夠有效地對結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析

    我們的用戶友好型LeicaSCAN軟件能夠控制Leica DCM8設(shè)備。配方方案,多樣本和統(tǒng)計(jì)分析能夠優(yōu)化工作流程。您是否還需要執(zhí)行更為復(fù)雜的三維測量任務(wù)?那就選擇我們的徠卡Map軟件,以及全套高級分析工具。當(dāng)然,如果您只需要二維圖像,則徠卡應(yīng)用程序套件(LAS)將會(huì)進(jìn)一步擴(kuò)展系統(tǒng)的測量功能。




    很容易匹配您的樣本

    能夠?qū)eica DCM8進(jìn)行配置以便適用于您的樣本,從反光性表面,到透明層下的表面,再到需要較大工作距離的樣本-我們都能夠提供滿足您需求的高品質(zhì)物鏡。對于大尺寸樣本來說,從我們的可調(diào)整鏡筒和電動(dòng)載物臺(tái)系列中進(jìn)行選擇。除此之外系統(tǒng)還采用了四種不同顏色的LED燈,能夠使您選擇適用于具體材料觀察的波長。




    獲取高質(zhì)量的圖像

    通過將性能的光學(xué)元件與高清CCD攝像頭、紅色、綠色、藍(lán)色和白色LED光源相結(jié)合,Leica DCM8能夠提供具有逼真的高清彩色圖像。再加上LED的連續(xù)性,能夠確保每個(gè)像素都能夠記錄真彩信息。分辨率和對比度提高的結(jié)果就是能夠?yàn)槟臉颖咎峁┧О媲逦笍氐膱D像。




    目前和將來都夠獲取非常可靠的結(jié)果

    高清微顯示掃描技術(shù)未配置任何運(yùn)動(dòng)部件,CCD攝像頭和4個(gè)LED燈均布置在兼顧緊湊的傳感器頭中。這種創(chuàng)新性設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)快速、可復(fù)制且無噪聲的圖像結(jié)果。值得一提的是,設(shè)備還具有較高的耐久性,實(shí)際上在較長的使用壽命期限內(nèi)設(shè)備幾乎不需要任何維護(hù)操作。


             

    Leica DCM8將高清晰度共聚焦顯微鏡干涉測量法融合在一臺(tái)儀器中
    徠卡顯微系統(tǒng)發(fā)布用于無損三維表面輪廓形成的Leica DCM8。該儀器融合了共聚焦和干涉光學(xué)測量儀,因此具有這兩種技術(shù)的*性:用于高橫向分辨率干涉法的高清晰度共聚焦顯微鏡,可獲得亞納米級的垂直分辨率。這兩種技術(shù)對于在各種不同的研究和產(chǎn)品環(huán)境下,進(jìn)行材料和零部件的表面分析都非常重要。由帶有高坡區(qū)域的錯(cuò)綜復(fù)雜的結(jié)構(gòu)制成的表面,要求數(shù)微米的橫向分辨率。與之相反,帶有臨界微型峰和谷的拋光超平滑表面,則要求納米尺度的縱向分辨率。
    Leica DCM8可以滿足用戶對比表面積測量的具體要求——共聚焦顯微鏡可使橫向分辨率高達(dá)140nm,輔之以干涉測量法,垂直分辨率可高達(dá)0.1nm。產(chǎn)品管理團(tuán)隊(duì)行業(yè)的團(tuán)隊(duì)——Stefan Motyka說:“ Leica DCM8是一種通用的、準(zhǔn)確的測量器,可以節(jié)省時(shí)間和成本:用戶不必交換儀器,就可以利用共聚焦和干涉測量技術(shù),觀察和測量同一樣品——他們只需要一臺(tái)儀器。另外,顯微鏡的用戶友好的設(shè)置和操作,可以省時(shí)省力,非常快速、方便地提供精準(zhǔn)的結(jié)果。”
    為了獲得高分辨率和高速度, Leica DCM8采用了共聚焦掃描技術(shù),無需移動(dòng)傳感頭中的部件,從而提高了可重復(fù)性和穩(wěn)定性。只需點(diǎn)擊鼠標(biāo),即可在兩種技術(shù)之間快速、簡單地切換。
    瑞士溫特圖爾IMPE的Christof Scherrer說:“我們之所以決定購買 Leica DCM8系統(tǒng),是因?yàn)樗梢杂米鞴鈱W(xué)顯微鏡,帶有明場、暗場和共聚焦以及三種干涉模式。對于像我們這樣的材料科學(xué)方面多元化的研究工作來說,靈活性是一項(xiàng)重要因素。”
    除了使用不同技術(shù)用于觀察和分析之外, Leica DCM8還是一種用于樣品的精確色彩存檔的理想儀器。高品質(zhì)徠卡物鏡以及四個(gè)LED光源的多種選擇——藍(lán)色(460nm)、綠色(530nm)、紅色(630nm)和白色(中心550nm)——以及一個(gè)集成的CCD相機(jī),提供逼真的彩色圖像。相機(jī)具有很大的視場——如果這還不夠,可以選擇XY地形拼接模式,以獲得較大面積的無縫、精確模型。直觀的軟件可以使用戶簡化復(fù)雜的3D和2D分析,完成符合具體需求的配置。
    Leica DCM8是一種3D表面測量顯微鏡,將共聚焦顯微鏡和干涉測量法融合在一臺(tái)儀器中。
    Leica DCM8無需交換儀器,即可同時(shí)提供共聚焦和干涉測量技術(shù)。
     

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