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光學薄膜厚儀Delta系列 詳細摘要: 產品特點白光干涉測厚儀TF200-XNIR產品特點快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS
產品型號: 所在地: 更新時間:2021-12-10 參考價: 面議 在線留言
上海鑫天精密儀器有限公司 |
詳細摘要: 產品特點白光干涉測厚儀TF200-XNIR產品特點快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS
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