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芯片卡三輪往復(fù)循環(huán)測試儀 詳細摘要： 芯片卡三輪往復(fù)循環(huán)測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復(fù)循環(huán)測試，將芯片卡放在機器測試滾輪之間，將...
產(chǎn)品型號： 所在地：南通市 更新時間：2019-09-21 參考價：¥ 3500 在線留言 -
芯片卡翹曲度測試儀 詳細摘要： 芯片卡翹曲度測試儀該夾具采用的是固定間距的重力滑落斜面設(shè)計，用于測量卡片彎曲度。精確的一個間距可以迅速的檢查出不帶凸碼卡片的彎曲度是否超過1.5mm。
產(chǎn)品型號： 所在地：南通市 更新時間：2019-05-08 參考價： 面議 在線留言