詳細介紹
ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設(shè)計符合人體工學(xué)原理。可根據(jù)操作者的需求量身定制,保證了掃描過程直觀、無疲勞感。由于配備了重量輕、結(jié)構(gòu)緊湊的測頭,該系統(tǒng)非常適合于數(shù)據(jù)捕獲,即使最難以到達的區(qū)域也不例外。
模塊化蔡司 T-SCAN 系統(tǒng)是您的快速前進方向:無需任何部分準(zhǔn)備即可捕獲 3D 數(shù)據(jù)。其匹配的組件-手持式T-SCAN激光掃描儀,光學(xué)跟蹤系統(tǒng)T-TRACK和觸摸探頭T-POINT形成了一個直觀和高度精確的3D計量解決方案。結(jié)合軟件GOM檢查套件,在坐標(biāo)測量技術(shù),它達到了一個新的維度。
優(yōu)勢:
便攜式光學(xué) CMM 3D 掃描儀 ZEISS T-SCAN 可有效應(yīng)對不一致性問題,讓用戶不再受成本增加、生產(chǎn)及部件審批延誤的困擾。該系統(tǒng)可用于對生產(chǎn)工具、夾具、配件、半成品或成品進行逆向工程和尺寸檢測,具有超高的體積精度。
ZEISS T-SCAN 光學(xué) CMM 采用光學(xué)測量方式,使得測量精度不易受環(huán)境變化的影響,因此成為車間質(zhì)量控制計量的推薦解決方案。它無需固定測量設(shè)置,無論環(huán)境發(fā)生何種變化都不會影響其性能水準(zhǔn)。
可幫助操作人員更好地管理生產(chǎn)過程,更快速地滿足制造業(yè)對質(zhì)量控制 (QC)的更高要求,同時絲毫不會影響生產(chǎn)效率。
ZEISS T-SCAN 光學(xué) CMM 的測量范圍可以擴展,測量速度驚人,且對復(fù)雜材料的數(shù)據(jù)采集能力令人驚嘆,是市場上極為全面的計量級 3D 掃描儀。它還配備可配對兼容的探測系統(tǒng)供用戶選擇。在車間環(huán)境中實現(xiàn)真正的質(zhì)量控制。
ZEISS T-SCAN與具備可選探測功能的 T-POINT 配套使用時,用戶可將 3D 掃描和探測的強大功能相結(jié)合,完成一次完整而精簡的檢測流程。
ZEISS T-SCAN 無嚴(yán)格的測量設(shè)置要求,專為車間應(yīng)用而設(shè)計。 ZEISS T-SCAN精度按照IN EN ISO10360標(biāo)準(zhǔn)的精度追溯(取最差精度,非精度),無論測量設(shè)置質(zhì)量和用戶技能水平如何,它都可提供準(zhǔn)確的結(jié)果。由于 T-Track光學(xué)跟蹤器支持動態(tài)參考,掃描儀、零部件和光學(xué)跟蹤器在檢測期間都可以移動,而測量結(jié)果同樣精準(zhǔn)。
動態(tài)參考
即使在移動的物體上也能得到高精密的三維數(shù)據(jù)記錄,通過采用動態(tài)參考功能,在惡劣的環(huán)境條件下可以獨立執(zhí)行測量工作,如振動(生產(chǎn)環(huán)境中,例如沖壓車間或 加工部件:對移動車門的密封進行測量)。
通用軟件接口
從數(shù)據(jù)采集到數(shù)據(jù)處理至數(shù)據(jù)比較 - ZEISS T-SCAN系統(tǒng)可以通過眾多直接的實時接口進行控制。因此,可以輕松集成到現(xiàn)有的工藝流程中。
用于不同的測量體積的光學(xué)跟蹤系統(tǒng)
從小型到大型的物體 - 系統(tǒng)配置“T-SCAN 10+"和“T-SCAN20",為您的個人測量應(yīng)用提供理想解決方案。
應(yīng)用范圍廣泛:
質(zhì)量控制/檢驗
- 比較CAD數(shù)據(jù)
- 邊界/邊緣提取(鈑金件)
- 與生產(chǎn)有關(guān)的檢查
模具和模具制造
-刀具重建
- 邊界/邊緣提取(鈑金件)
- 刀具釋放時的實際3D數(shù)據(jù)文檔
- 復(fù)雜焊接結(jié)構(gòu)的檢驗
- 設(shè)置儀表和安裝夾具
快速制造
- 三維數(shù)據(jù)掃描用于快速成型
逆向工程
- 高度復(fù)雜幾何形狀測量的逆向工程
設(shè)計
- 設(shè)計模型的掃描,用于進一步處理CAD數(shù)據(jù)、文檔
- 特征線的捕獲
- 基面(對齊)的快速掃描
復(fù)雜組件的動態(tài)捕獲,例如裝夾過程
考古學(xué)、藝術(shù)/歷史文物的掃描
醫(yī)療技術(shù)應(yīng)用(動作捕捉等)