摘要:Metavision-10008X專為在極低檢測限要求的高準(zhǔn)確度的應(yīng)用而設(shè)計。Metavision-10008X能夠分析幾乎所有可...
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摘要:metavision-1008i³采用超高分辨率雙光學(xué)系統(tǒng),采用新一代CMOS探測器和定制開發(fā)的光學(xué)系統(tǒng),具有其他同類產(chǎn)...
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摘要:metavision-1008i采用D-Scan光學(xué)系統(tǒng),使檢測器分辨率提高了一倍,檢測極限、精度和準(zhǔn)確度也比傳統(tǒng)光學(xué)設(shè)計提高了數(shù)...
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摘要:MOSS可以分析30多種元素,包括氮元素。例如,在合金鋼中,它可以分析低至50ppm的碳(C)、硫(S)、磷(P)和氮(N),以及...
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摘要:異物測定裝置洗凈機引入生産使用的同時更重要的是洗凈后對于洗凈效果的判斷,因此需要引用用來判斷工件的洗凈效果的裝置。特別是機動車零件...
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摘要:Radiation 全光譜橢偏儀
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摘要:Radiation 全光譜反射儀
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摘要:X射線無損檢測系統(tǒng)用途:鋁壓鑄零件、機械零件、電器零件、樹脂成型品等
全能型(一體構(gòu)造),可檢查小型到中型鋁壓鑄零件,5軸多... |
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摘要:X射線無損檢測系統(tǒng)應(yīng)用封裝底板、BGA、電子元件、器件、傳感器、樹脂等
是追求在現(xiàn)場的易用性的安裝基板檢查用模型。是活用了東... |
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摘要:晶體方位測量裝置用途單晶硅/晶圓的結(jié)晶方位測量,支持Si、藍寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機構(gòu)可以...
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摘要:晶體方位測量裝置用途單晶硅/晶圓的結(jié)晶方位測量,支持Si、藍寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機構(gòu)可以...
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摘要:晶體方位測量裝置用途單晶硅/晶圓的結(jié)晶方位測量,支持Si、藍寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機構(gòu)可以...
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摘要:非破壞檢測系統(tǒng)是一種能分析小型精密零件、電子零件等內(nèi)部狀況的微聚焦X射線檢查裝置。
用于電路板、電子器件、小型連接器、車載用... |
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摘要:非破壞檢測系統(tǒng)用途:小型電子元件、模制品、樹脂、GFRP、CFRP、纖維等
這是一種緊湊的高性能微型CT,采用高靈敏度的X射... |
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摘要:非破壞檢測系統(tǒng)用途:小型電子元件、模制品、樹脂、GFRP、CFRP、纖維等
這是一種緊湊的高性能微型CT,采用高靈敏度的X射... |
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摘要:非破壞檢測系統(tǒng)通過為每一種X射線發(fā)生器搭配合適的檢測器,230kv模型能夠捕獲更多的軟X射線,以高對比度實現(xiàn)令人驚嘆的高畫質(zhì),30...
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摘要:非破壞檢測系統(tǒng)通過為每一種X射線發(fā)生器搭配合適的檢測器,230kv模型能夠捕獲更多的軟X射線,以高對比度實現(xiàn)令人驚嘆的高畫質(zhì),30...
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摘要:非破壞檢測系統(tǒng)450kv高能CT掃描儀通過最高管電壓450kv的高能X射線產(chǎn)生裝置,可以對大型部件和X射線透射嚴(yán)格的重金屬產(chǎn)品進行...
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摘要:非破壞檢測系統(tǒng)450kv高能CT掃描儀通過最高管電壓450kv的高能X射線產(chǎn)生裝置,可以對大型部件和X射線透射嚴(yán)格的重金屬產(chǎn)品進行...
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摘要:產(chǎn)品敘述膜厚量測英國牛津儀器OXFORDX射線螢光膜厚測量儀系列用於電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連...
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摘要:大面積老化IV測試穩(wěn)態(tài)太陽模擬器是一種非常有用的工具。它可以用來模擬太陽的光譜和強度,以便測試太陽能電池在長時間穩(wěn)定工作狀態(tài)下的性...
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摘要:全光譜太陽光模擬器百科:全光譜太陽光模擬器是一種設(shè)備,用于模擬太陽光的全光譜特性。它可以發(fā)射出與太陽光譜相似的光線,包括從紫外線到...
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摘要:AM1.5G&AMO匹配光譜太陽光模擬器,首先需要了解這兩個光譜的特點和要求。AM1.5光譜是指空氣質(zhì)量為1.5時的太陽光...
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摘要:太陽光模擬器百科,太陽光模擬器是一種設(shè)備,用于模擬太陽光的特性和光譜。它通常由一個光源(例如氙燈或鎢燈)和一系列光學(xué)元件(例如反射...
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摘要:寬幅工業(yè)相機一般是寬幅面線陣相機,是一種線性掃描相機,逐行掃描步進成一幅完整的圖像。相機采用CMOS技術(shù),具有幅度寬(可達1391...
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河北經(jīng)緯機械制造
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