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摘要:價(jià)格便宜的DELTASCOPE MP10E儀器適合于使用在不需要全部測量數(shù)據(jù)存儲(chǔ),評(píng)估和輸出, 但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范...
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摘要:該款儀器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于汽車、航空、電鍍和機(jī)械加工等等領(lǐng)域.如配置ED10兩用探頭,在同時(shí)測量 Zn/Fe、Cu/Fe和鋁氧極氧化,...
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摘要:XDV-μ 型系列儀器是專為在很微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡...
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摘要:XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm?的探測...
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摘要:XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度
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摘要:菲希爾XDAL 237 X射線熒光測量儀,帶有快速可編程的XY平臺(tái)和Z軸,可自動(dòng)測量薄涂層厚度和進(jìn)行材料分析。
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摘要:XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器,觸點(diǎn)或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。
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摘要:所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
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摘要:PosiTector 6000涂層測厚儀用于測量黑色金屬和有色金屬以及其他基材上的涂層厚度。Defelsko PosiTector...
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摘要:minitest 7400高精度測厚儀針對(duì)所有金屬基材上的非破壞性測量,測量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭, SIDSP技術(shù)提升準(zhǔn)...
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摘要:Mahr Millimar C1216高精度型薄膜測厚儀主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片等各種材料的厚度***測量。
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摘要:QNix9500涂鍍層測厚儀是一款堅(jiān)固耐用、符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),適合連續(xù)長時(shí)間使用的手持涂層測厚儀。既可以將探頭內(nèi)置成為一體機(jī),也...
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摘要:QNix5500是一款堅(jiān)固耐用、符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),適合連續(xù)長時(shí)間使用的手持涂層測厚儀。既可以將探頭內(nèi)置成為一體機(jī),也可以輕松將探...
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摘要:X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量,菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射...
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摘要:MINITEST 600型測厚儀,是便攜式、無損、快速、準(zhǔn)確測量覆層厚度的精密儀器。主要應(yīng)用于防腐、電鍍、化工、汽車、造船、航空、...
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摘要:MiniTest 2500/4500 系列涂層測厚儀提供多種測量探頭,使其可以處理標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用以及更復(fù)雜的測量任務(wù)。
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摘要:新型涂層測厚儀MiniTest 2500和MiniTest 4500結(jié)合了高精度的現(xiàn)代測量技術(shù)和經(jīng)典的處理概念。兩個(gè)型號(hào):Mini...
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摘要:快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析,低成本、高效率!速,精確的分析:大面積正比計(jì)數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(...
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摘要:FTD3.3測量非鐵磁性金屬基材(NC / NF)上的非導(dǎo)電涂層。 具有良好的曲率補(bǔ)償,特別適用于曲面上的測量,如車身,百葉窗等。...
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摘要:FISCHER 的儀器和探頭必能讓您的測量手到擒來。根據(jù)您的需求選擇合適的型號(hào),點(diǎn)擊查看詳細(xì)信息,如有任何疑問,或是想了解fisc...
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摘要:對(duì)于儀器,您可以根據(jù)您的應(yīng)用從新的FMP家族(參見右側(cè)表格)中選取;對(duì)于探頭,我們?yōu)槟峁┝舜罅扛呔鹊奶筋^,相信一-定有一款適合...
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摘要:CMI95M是一款為測試銅箔厚度設(shè)計(jì)的電池供電的手持式測厚儀,它能夠在一秒鐘之內(nèi)測量印刷電路板上的銅箔厚度,范圍從1/8到4.0盎...
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摘要:新的 Elcometer 456 涂層測厚儀掃描探頭 , 不僅允許檢查員在 不損壞探頭或涂層的情況下 , 將探頭在整個(gè)表面拖動(dòng),但...
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