河北經緯機械制造
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摘要：GTS3800激光跟蹤儀測量系統(tǒng)具有的自動跟蹤鎖定靶球功能，在測量過程中即便斷光也會自動搜尋到靶球位置同時迅速將激光束對... |
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摘要： 工業(yè)掃描儀和激光測距儀RIEGL激光測距儀技術參數(shù)高穿透、高精度模式測距自然物體 |
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摘要： MDS力矩放大器(加力扳手) 力矩放大器是在工業(yè)生產檢修安裝現(xiàn)場，用于緊固和拆卸大直徑螺栓螺母 |
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摘要：T-SCAN CS德國Carl Zeiss光電技術有限公司推出全新配置手持式三維激光掃描儀T-SCAN CS，功能更強大... |
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摘要：T-SCAN LV 模塊化，個性化的系統(tǒng)配置 測量范... |
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摘要：手持三維掃描儀T-SCAN hawk便于攜帶，精確并有所作為。結合預裝的GOM Inspect Suite軟件，它是一個... |
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摘要：詳細說明SIOS激光干涉儀代理SIOS激光干涉儀是根據(jù)邁克遜干涉測量原理制成的精密測量儀器，根據(jù)該原理，兩列具有固定相位... |
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摘要：多激光平面度翹曲度測量儀，玻璃平面度檢測儀，手機外殼平面度測量儀我司生產的多激光平面度翹曲度測量儀適用于手機玻璃，手機外... |
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摘要：復合式激光掃描儀 將激光配置各種三坐標測量機上構成激光掃描測量機，與接觸式測量相結合，可以進行高精度掃描或者測量。實現(xiàn)對... |
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摘要：DNC-7P動態(tài)干涉儀產品型號：DNC-7P結構緊湊，重量輕35us數(shù)據(jù)采集時間2448*2048 Pixel,12bi... |
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摘要： D50中紅外干涉儀產品型號：D50紅外光學元件的表面面型測量 |
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摘要：130mm紅外激光干涉儀產品型號：INF130-IR-LS635nm可見光共軸對準，操作方便工程化程度高，性能優(yōu)良，使用... |
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摘要：波長調諧式干涉條紋分析系統(tǒng)產品型號：機械相移分析系統(tǒng)主要通過壓電陶瓷在較高電壓作用下產生一定的伸縮變形，從而帶動反射鏡產... |
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摘要：機械相移式干涉條紋分析系統(tǒng)產品型號：太科波長調諧式干涉條紋分析系統(tǒng)是一套用于檢測光學元件面形的專業(yè)工具。該系統(tǒng)通過改變激... |
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摘要：INF100-LP/LS球面干涉儀產品型號：INF100-LP/LS高精度、多品種透鏡的光學表面面型測量高精度平面光學元... |
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摘要：INF150-LP/LS激光球面干涉儀產品型號：INF150-LP/LSINF150-LP/LS激光球面干涉儀主要用于平... |
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摘要： 測量性能人眼安全CLASS1典型測量能力2km（2.3mx2.3m目標 |
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摘要： ZYGO激光干涉儀 |
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摘要：INF60H-LP/LS臥式激光球面干涉儀產品型號：INF60H-LP/LSINF60H-LP/LS臥式激光球面干涉儀主... |
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摘要： INF60-LS球面干涉儀產品型號：INF60-LS各類中小透鏡，球面反射鏡的光學表面面型測量 |
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摘要： INF25-LP蓋板干涉儀產品型號：INF25-LP主要用于手機蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測試！ |
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摘要： INF60-LP激光平面干涉儀產品型號：INF60-LP平面光學元件表面面型測量 |
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摘要： INF150-LP激光平面干涉儀產品型號：INF150-LP平面光學元件的表面面型測量平面光學元件平行度測量 |
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摘要：INF450-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產品型號：INF450-LP-WM成像質量良好，結構簡潔臥式結構，雙端口測量操... |
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摘要：INF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀產品型號：INF150V-LPINF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀主要用于生產現(xiàn)... |
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