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摘要:GTS3800激光跟蹤儀測(cè)量系統(tǒng)具有的自動(dòng)跟蹤鎖定靶球功能，在測(cè)量過(guò)程中即便斷光也會(huì)自動(dòng)搜尋到靶球位置同時(shí)迅速將激光束對(duì)準(zhǔn)靶球中心...
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摘要:工業(yè)掃描儀和激光測(cè)距儀RIEGL激光測(cè)距儀技術(shù)參數(shù)高穿透、高精度模式測(cè)距自然物體
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摘要:MDS力矩放大器(加力扳手) 力矩放大器是在工業(yè)生產(chǎn)檢修安裝現(xiàn)場(chǎng)，用于緊固和拆卸大直徑螺栓螺母
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摘要:T-SCAN CS德國(guó)Carl Zeiss光電技術(shù)有限公司推出全新配置手持式三維激光掃描儀T-SCAN CS，功能更強(qiáng)大，使用更簡(jiǎn)...
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摘要:T-SCAN LV 模塊化，個(gè)性化的系統(tǒng)配置 測(cè)量范圍大，
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摘要:手持三維掃描儀T-SCAN hawk便于攜帶，精確并有所作為。結(jié)合預(yù)裝的GOM Inspect Suite軟件，它是一個(gè)功能強(qiáng)大的...
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摘要:詳細(xì)說(shuō)明SIOS激光干涉儀代理SIOS激光干涉儀是根據(jù)邁克遜干涉測(cè)量原理制成的精密測(cè)量?jī)x器，根據(jù)該原理，兩列具有固定相位差，而且有...
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摘要:多激光平面度翹曲度測(cè)量?jī)x，玻璃平面度檢測(cè)儀，手機(jī)外殼平面度測(cè)量?jī)x我司生產(chǎn)的多激光平面度翹曲度測(cè)量?jī)x適用于手機(jī)玻璃，手機(jī)外殼，汽車(chē)玻...
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摘要:復(fù)合式激光掃描儀 將激光配置各種三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上構(gòu)成激光掃描測(cè)量機(jī)，與接觸式測(cè)量相結(jié)合，可以進(jìn)行高精度掃描或者測(cè)量。實(shí)現(xiàn)對(duì)需要高密度...
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摘要:DNC-7P動(dòng)態(tài)干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：DNC-7P結(jié)構(gòu)緊湊，重量輕35us數(shù)據(jù)采集時(shí)間2448*2048 Pixel,12bit優(yōu)秀的數(shù)...
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摘要:D50中紅外干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：D50紅外光學(xué)元件的表面面型測(cè)量
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摘要:130mm紅外激光干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF130-IR-LS635nm可見(jiàn)光共軸對(duì)準(zhǔn)，操作方便工程化程度高，性能優(yōu)良，使用可靠
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摘要:波長(zhǎng)調(diào)諧式干涉條紋分析系統(tǒng)產(chǎn)品型號(hào)：機(jī)械相移分析系統(tǒng)主要通過(guò)壓電陶瓷在較高電壓作用下產(chǎn)生一定的伸縮變形，從而帶動(dòng)反射鏡產(chǎn)生微小的平...
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摘要:機(jī)械相移式干涉條紋分析系統(tǒng)產(chǎn)品型號(hào)：太科波長(zhǎng)調(diào)諧式干涉條紋分析系統(tǒng)是一套用于檢測(cè)光學(xué)元件面形的專(zhuān)業(yè)工具。該系統(tǒng)通過(guò)改變激光的波長(zhǎng)產(chǎn)...
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摘要:INF100-LP/LS球面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF100-LP/LS高精度、多品種透鏡的光學(xué)表面面型測(cè)量高精度平面光學(xué)元件的表面面...
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摘要:INF150-LP/LS激光球面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF150-LP/LSINF150-LP/LS激光球面干涉儀主要用于平面、球面及...
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摘要:測(cè)量性能人眼安全CLASS1典型測(cè)量能力2km（2.3mx2.3m目標(biāo)
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摘要:ZYGO激光干涉儀
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摘要:INF60H-LP/LS臥式激光球面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF60H-LP/LSINF60H-LP/LS臥式激光球面干涉儀主要用于球面...
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摘要:INF60-LS球面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF60-LS各類(lèi)中小透鏡，球面反射鏡的光學(xué)表面面型測(cè)量
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摘要:INF25-LP蓋板干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF25-LP主要用于手機(jī)蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測(cè)試！
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摘要:INF60-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF60-LP平面光學(xué)元件表面面型測(cè)量
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摘要:INF150-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF150-LP平面光學(xué)元件的表面面型測(cè)量平面光學(xué)元件平行度測(cè)量
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摘要:INF450-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF450-LP-WM成像質(zhì)量良好，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測(cè)量操作方便，使...
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摘要:INF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF150V-LPINF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀主要用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)平面元件...
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