射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾的抗擾性試驗

    本標(biāo)準(zhǔn)涉及電子和電力設(shè)備對射頻發(fā)射機產(chǎn)生的在9kHz~80MHz頻率范圍內(nèi)傳導(dǎo)騷擾的抗擾性要求。本標(biāo)準(zhǔn)所考慮的騷擾源是射頻輻射電磁場，由于被干擾設(shè)備的尺寸通常要比騷擾信號的波長短得多，而設(shè)備引線（包括電源線、通信線和接口電纜等）的長度則可能與騷擾信號的幾個波長相等，因此引線便起到了被動天線的作用，射頻電磁場就可以通過引線以傳導(dǎo)方式（zui終以射頻電壓和射頻電流所形成的近場電場和近場磁場在設(shè)備內(nèi)部）對設(shè)備產(chǎn)生騷擾。
    試驗中用到的主要儀器及其主要性能有：射頻信號發(fā)生器，功率放大器，耦合和去耦裝置等。
    耦合和去耦裝置將干擾信號合適地耦合到EUT的各條電纜上，其主要參數(shù)（從EUT端口處看去的共模阻抗）見下表:

表3 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾中CDN的阻抗
    耦合和去耦裝置的特性通過從EUT處看去的共模阻抗 Zce表現(xiàn)出來。
    耦合和去耦裝置和阻抗參考面（）應(yīng)放置于一地參考平面上，該參考面的大小至少要比設(shè)備所有面的投影幾何尺寸超出0.2m。網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)使用50Ω參考阻抗，網(wǎng)絡(luò)分析儀在阻抗參考平面內(nèi)（用開路、短路和50Ω負(fù)載）校準(zhǔn)，在阻抗參考接頭與EUT端口之間需要一短連接（L≤30mm），校驗 Zce時使用的幾何圖和的原理圖。 如所示，在短路和開路條件下，

    當(dāng)輸入端口接有50Ω負(fù)載，并且AE端口依次短路和開路條件加載共模阻抗時，耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)應(yīng)滿足上表的阻抗要求。