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    汽車(chē)電磁兼容試驗(yàn)

    2010年06月30日 13:05點(diǎn)擊:989作者:傳導(dǎo)_輻射_靜電_脈沖_浪涌_周波_電磁兼容_蘇州泰思特電子科技有限公司來(lái)源:蘇州泰思特電子科技有限公司>>進(jìn)入該公司展臺(tái)

    隨著工程師開(kāi)發(fā)日益復(fù)雜的方案來(lái)滿足舒適、安全、娛樂(lè)、動(dòng)力總成、引擎管理、穩(wěn)定性和控制應(yīng)用的需求,現(xiàn)代車(chē)載電子產(chǎn)品的數(shù)量將持續(xù)穩(wěn)定地增長(zhǎng)。此外,隨著非常復(fù)雜精密的電子產(chǎn)品在汽車(chē)應(yīng)用中的日益普及,即使zui基本型的車(chē)輛也配置了幾年前一直是車(chē)才有的電子設(shè)備。

    過(guò)去,汽車(chē)電子的增長(zhǎng)動(dòng)力是舒適和便利等與安全無(wú)關(guān)的應(yīng)用。通常,如采用電動(dòng)升降窗或中控鎖,這些產(chǎn)品只不過(guò)是取代了現(xiàn)有的機(jī)械系統(tǒng)。zui近,汽車(chē)電子的范疇已經(jīng)擴(kuò)展到支持與安全相關(guān)的應(yīng)用,如引擎優(yōu)化、主被動(dòng)安全系統(tǒng)以及包括GPS在內(nèi)的信息娛樂(lè)系統(tǒng)。

    現(xiàn)在,我們正在迎接汽車(chē)電子發(fā)展的第三次革命。汽車(chē)電子不再僅僅支持關(guān)鍵的功能,而且深入到汽車(chē)的控制之中,提供重要的駕駛員信息、控制引擎、避撞監(jiān)測(cè)和避碰、執(zhí)行線控剎車(chē)和轉(zhuǎn)向或?qū)?chē)內(nèi)環(huán)境實(shí)施智能控制。

    對(duì)
    于通用嵌入式硬件電子平臺(tái)來(lái)說(shuō),速度和成本是*的問(wèn)題。這些平臺(tái)具有基本或公用的硬件功能,通過(guò)面向應(yīng)用的軟件設(shè)計(jì),可以為同一車(chē)型系列或不同車(chē)廠
    的各種車(chē)型專(zhuān)門(mén)定制功能。系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)半導(dǎo)體器件將各種功能集成到單一芯片之中,減少了對(duì)元件數(shù)量和占位空間的要求,在確保長(zhǎng)期可靠性的同時(shí),對(duì)
    于成功地開(kāi)發(fā)通用嵌入式電子平臺(tái)是至關(guān)重要的。

    電磁兼容性

    隨著汽車(chē)電子產(chǎn)品數(shù)量的增加和復(fù)雜電子模塊在整個(gè)車(chē)輛中分布的增加,工程師面臨日益嚴(yán)峻的電磁兼容性設(shè)計(jì)挑戰(zhàn),問(wèn)題主要存在于三個(gè)方面:
    1. 如何把電磁易感性(EMS)降低到zui小?以保護(hù)電子產(chǎn)品免受其它電子系統(tǒng)如、GPS或信息娛樂(lè)系統(tǒng)的有害電磁輻射的影響。

    2. 如何保護(hù)電子產(chǎn)品免受惡劣汽車(chē)環(huán)境的影響?包括電源電壓大的瞬間變化、重負(fù)載或感性負(fù)載如車(chē)燈和啟動(dòng)機(jī)引起的干擾。

    3. 如何將可能對(duì)其它汽車(chē)電子電路產(chǎn)生影響的EME控制為zui小?

    隨著系統(tǒng)電壓、車(chē)載電子設(shè)備數(shù)量以及頻率的增加,這些問(wèn)題將更加具有挑戰(zhàn)性。此外,許多電子模塊將與廉價(jià)的、線性度較低、偏移較大的低功率傳感器接口,這些傳感器工作在小信號(hào)狀態(tài),電磁干擾對(duì)它們工作狀態(tài)的影響可能是災(zāi)難性的。

    符合性和標(biāo)準(zhǔn)


    述問(wèn)題表明,汽車(chē)EMC符合性測(cè)試已經(jīng)成為汽車(chē)設(shè)計(jì)的主要元素。符合性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)化一直在車(chē)廠、車(chē)廠配套供應(yīng)商及不同的立法團(tuán)體中進(jìn)行。然而,EMC問(wèn)題
    發(fā)現(xiàn)得越晚,找到EMC問(wèn)題的根源就越困難,解決方案的成本會(huì)越高,受到的局限性就可能越大。正因?yàn)槿绱耍瑥?/font>IC設(shè)計(jì)、PCB量產(chǎn)、模塊的實(shí)現(xiàn)到整車(chē)的設(shè)
    計(jì)的全過(guò)程著手考慮EMC問(wèn)題將是基本的設(shè)計(jì)方法。為了便于實(shí)施這一過(guò)程,模塊級(jí)預(yù)符合性測(cè)試和IC級(jí)測(cè)試已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了標(biāo)準(zhǔn)化。

    設(shè)計(jì)符合EMCIC和模塊

    下面是IC設(shè)計(jì)應(yīng)該遵循的EMC標(biāo)準(zhǔn):

    EME標(biāo)準(zhǔn) IEC 61967: 針對(duì)150kHz1GHz范圍的輻射型和傳導(dǎo)型電磁發(fā)射的測(cè)量。

    EMS標(biāo)準(zhǔn) IEC 62132: 針對(duì)150kHz1GHz范圍的電磁免疫性抗電磁干擾性的測(cè)量。

    瞬態(tài)標(biāo)準(zhǔn) ISO 7637: 針對(duì)公路車(chē)輛引起的傳導(dǎo)和耦合電氣干擾的測(cè)量。


    統(tǒng)設(shè)計(jì)工程師如何才能確保其SoC及zui終模塊滿足上述標(biāo)準(zhǔn)的要求呢?傳統(tǒng)的SPICE模型以集成電路設(shè)計(jì)為重點(diǎn)的模擬電路仿真器在此不管用,因?yàn)殡姶?/font>
    場(chǎng)與基于SPICE的仿真環(huán)境不兼容。在IC設(shè)計(jì)層面,電磁場(chǎng)只能用電場(chǎng)來(lái)建模,因?yàn)椋酒头庋b的尺寸比電磁信號(hào)的波長(zhǎng)要小得多(1GHz信號(hào)的波長(zhǎng)是 30cm,遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于IC的尺寸。在此要注意的關(guān)鍵是輻射型發(fā)射和易感性不是IC的主要問(wèn)題,印刷電路板和電纜上的有效天線才是引起傳導(dǎo)型發(fā)射和易感性等
    主要問(wèn)題的原因。

    設(shè)計(jì)工程師要采取若干技術(shù)來(lái)確保EMC符合性,下面依次考察EMEEMS

    EM發(fā)射
    RX3安規(guī)與電磁兼容網(wǎng)

    EME(電磁發(fā)射是由像天線一樣的外部環(huán)路中的高頻電流產(chǎn)生的,這樣的高頻電流包括:

    --核心數(shù)字邏輯的開(kāi)關(guān),如DSP和時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器同步邏輯生成包含許多高頻成分的大量電流尖峰

    --模擬電路的動(dòng)作;

    --數(shù)字I/O引腳的開(kāi)關(guān);

    --將大電流尖峰傳遞到電路板和線束的大功率輸出驅(qū)動(dòng)器;


    了將這些因素的影響降低到zui小,設(shè)計(jì)工程師應(yīng)該盡可能采用低功率的電路,包括較低電壓、自適應(yīng)電源電壓、在頻域上擴(kuò)譜時(shí)鐘信號(hào)的架構(gòu)。當(dāng)數(shù)字系統(tǒng)中某些部
    分不工作的時(shí)候,要將其關(guān)閉以減少單時(shí)鐘周期上的元件開(kāi)關(guān)的數(shù)量。此外,通過(guò)把時(shí)鐘和驅(qū)動(dòng)信號(hào)的開(kāi)關(guān)邊沿斜率降低并提供軟開(kāi)關(guān)特性,也有助于減少EME
    zui后,設(shè)計(jì)工程師應(yīng)該仔細(xì)設(shè)計(jì)外部和芯片的版圖。例如,采用雙絞線的差分輸出信號(hào)產(chǎn)生的EME較低,且不易受EME的影響。VDDVSS彼此之間接近和
    有效的電源去耦也是降低EME的簡(jiǎn)單技術(shù)。

    EMS易感性

    整流/泵、寄生元件、電流、功耗太大是EMS(電磁易感性的四個(gè)zui主要干擾效應(yīng)。高頻電磁功率被部分吸納在IC之中,因此,可能會(huì)引起若干擾動(dòng)。這些擾動(dòng)包括將大的高頻電壓傳入高阻抗節(jié)點(diǎn)及把大的高頻電流傳入低阻抗節(jié)點(diǎn)。

    EMS效應(yīng)減少到zui小的主要辦法是把電路設(shè)計(jì)勻稱(chēng),因而避免可能出現(xiàn)整流現(xiàn)象。采用差分電路拓?fù)浜桶鎴D設(shè)計(jì)可以做到這一點(diǎn)。即使對(duì)于應(yīng)用中需要小信號(hào)的傳
    感器,能夠處理較大共模信號(hào)的拓?fù)淇赡苡兄诒3窒到y(tǒng)在寬范圍電磁信號(hào)內(nèi)保持線性。通過(guò)濾波可以限制進(jìn)入敏感器件的頻率范圍,這是另外一種常用的技術(shù),特
    別是在可以采用片上濾波的時(shí)候。采取高共模抑制比(CMRR)和電源抑制比設(shè)計(jì)(PSRR)也將使電路免受整流干擾,并保持內(nèi)部節(jié)點(diǎn)阻抗為低且所有敏感節(jié)
    點(diǎn)都在片上。zui后,為了避免或控制寄生元件和電流,采用保護(hù)器件將大于所要求的EMS抑制電平的部分鉗位掉是很重要的。該技術(shù)有助于避免整流干擾并維持保
    護(hù)電平與信號(hào)對(duì)稱(chēng)。把襯底電流控制在zui小并把這些電流聚集在受控點(diǎn)中也是關(guān)鍵

     

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    常規(guī)電磁兼容知識(shí)大匯總:
     1.常用電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試要點(diǎn)           
     2.電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目及設(shè)備配置
     3.傳導(dǎo),輻射,雷擊(SURGE),靜電(ESD),群脈沖(EFT)測(cè)試 
     4.ESD測(cè)試(靜電放電測(cè)試)
    5. 電磁兼容三要素
    6.
    電磁兼容指令(EMC|電磁兼容測(cè)試|電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)
    7. 產(chǎn)品認(rèn)證、電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試方法
     8.工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
     9.IEC61000-4-4 EFT脈沖群抗擾度試驗(yàn)的新老標(biāo)準(zhǔn)的不同
    10. 電磁兼容emc測(cè)試所需基本儀器之要求及其配備
    11.脈沖群抗擾度試驗(yàn)的重復(fù)性和可比性
    12開(kāi)關(guān)電源電磁兼容測(cè)試
    13.電磁兼容抗干擾測(cè)試儀器的校準(zhǔn)
    14.從脈沖群抗擾度試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)草案看試驗(yàn)演變情況
    15. emc電磁兼容測(cè)試的通用儀器
    16. 電磁兼容測(cè)試的條件與方法
    17.電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目
    18.國(guó)內(nèi)外電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)概況與測(cè)試手段簡(jiǎn)介
    19.電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試要點(diǎn)(EMC
    20.GB/T17626.2-2006與GB/T17626.2-1998靜電放電標(biāo)準(zhǔn)差異分析報(bào)告
    21.靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.2
    22如何提高電子產(chǎn)品的抗*力和電磁兼容性
    23. 電磁兼容基礎(chǔ)知識(shí)_傳導(dǎo)_輻射_靜電_脈沖_浪涌_周波跌落
    24家電產(chǎn)品ESDEMCEMSEMI輻射、傳導(dǎo)等測(cè)試
    25.傳導(dǎo)_輻射_靜電_浪涌_雷擊_脈沖群_衰減震蕩_周波跌落_電磁兼容測(cè)試儀器
    26電磁兼容(emc)標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和分類(lèi)
     
    瞬態(tài)傳導(dǎo)抗繞度測(cè)試系統(tǒng)配置方案:
    1.電壓跌落、短時(shí)中斷和電壓漸變的抗干擾度試驗(yàn)
    2.工頻磁場(chǎng)抗干擾度試驗(yàn)系統(tǒng)
    3.雷擊浪涌抗干擾度試驗(yàn)系統(tǒng)配置方案
    4.電快速瞬變脈沖群的抗干擾度試驗(yàn)系統(tǒng)
    5.靜電放電抗干擾試驗(yàn)系統(tǒng)
    6.衰減振蕩波抗擾度試驗(yàn)
    7.GB/T17626.6(IEC61000-4-6)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

    雷擊浪涌(surge)測(cè)試知識(shí):
    1.IEC61000-4-5(GB/T17626.5)浪涌的抗干擾測(cè)試(SURGE
    2.浪涌抗擾度(surge)實(shí)驗(yàn)室配置
    3.浪涌的抗干擾測(cè)試(SURGE
    4.surge浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試
    5.電子產(chǎn)品的雷擊浪涌防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試
    6. 雷電電磁脈沖場(chǎng)模擬器(脈沖磁場(chǎng))
    7 電子產(chǎn)品的雷擊浪涌(surge)防護(hù)(一)
     
    電磁兼容測(cè)試環(huán)境內(nèi)容:
    1.   電磁屏蔽室的通信電纜暗箱的要求
    2.   電磁屏蔽室制造制造和測(cè)試參照標(biāo)準(zhǔn)
    3.   射頻屏蔽室屏蔽效能的測(cè)試 
    4. 標(biāo)準(zhǔn)三米法EMC暗室  
    5電磁屏蔽室建設(shè)方案(電磁兼容)
    6屏蔽室建設(shè)方案(EMC
    7軍用電磁兼容屏蔽暗室規(guī)劃和設(shè)計(jì)
                                         
      車(chē)載電子電磁兼容性?xún)?nèi)容如下:                
     1.車(chē)輛零組件電磁兼容試驗(yàn)方法介紹
     2.汽車(chē)電子電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目
    3.汽車(chē)電子干擾模擬器/汽車(chē)電子電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)/汽車(chē)干擾模擬系統(tǒng)
    4.汽車(chē)電子的電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試設(shè)備
    5.汽車(chē)及車(chē)載電子設(shè)備電磁兼容EMC測(cè)試
    6.汽車(chē)電子電磁兼容測(cè)試-企業(yè)實(shí)驗(yàn)室射頻騷擾測(cè)試
    7.車(chē)輛電氣設(shè)備的瞬變傳導(dǎo)騷擾和抗擾度性能測(cè)試
    8.汽車(chē)電子部件EMI抗擾性測(cè)試的各種方法及其優(yōu)缺點(diǎn)
    9.汽車(chē)高能量拋負(fù)載發(fā)生器(汽車(chē)電子電磁兼容性檢測(cè)設(shè)備)
    10.汽車(chē)電壓跌落模擬發(fā)生器(汽車(chē)電子電磁兼容性設(shè)備)
    11.汽車(chē)瞬變脈沖干擾模擬器(汽車(chē)電子電磁兼容檢測(cè)設(shè)備)
    12.汽車(chē)微脈沖干擾模擬器(汽車(chē)電子電磁兼容檢測(cè)設(shè)備)
    13汽車(chē)電子干擾模擬系統(tǒng)方案配置(電磁兼容)
    14.汽車(chē)電子電磁兼容抗干擾實(shí)驗(yàn)室配置方案
    15.CISPR 12及ISO11451-2車(chē)載電子電磁兼容測(cè)試
    16.汽車(chē)電子電磁兼容抗干擾實(shí)驗(yàn)室配置方案
    17汽車(chē)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)
    18GB國(guó)標(biāo)汽車(chē)電子電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)
    19歐盟車(chē)載產(chǎn)品認(rèn)證簡(jiǎn)介(電磁兼容)
    20各國(guó)電磁兼容EMC認(rèn)證簡(jiǎn)表(傳導(dǎo)_輻射_靜電_脈沖_浪涌等測(cè)試設(shè)備)
    21根據(jù)CISPR 12ISO 11451-2電磁兼容EMC測(cè)試1
     22CISPR 12ISO 11451-2電磁兼容EMC測(cè)試2

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    實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)集成項(xiàng)目
    組裝式電磁兼容屏蔽室 焊接式電磁兼容屏蔽室 電波暗室/微波暗室/屏蔽室 三環(huán)天線輻射測(cè)試系統(tǒng) 騷擾功率測(cè)試系統(tǒng) 電源線傳導(dǎo)騷擾測(cè)試系統(tǒng) 手機(jī)的無(wú)源測(cè)試和有源測(cè)試 諧波電流、電壓波動(dòng)和閃爍測(cè)試 喀嚦聲干擾測(cè)試系統(tǒng) 輻射敏感度(抗擾度)系統(tǒng) 射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)
    汽車(chē)電子EMC測(cè)試系統(tǒng)
    汽車(chē)設(shè)備電源故障模擬器 汽車(chē)微脈沖干擾模擬器 汽車(chē)瞬變脈沖干擾模擬器 汽車(chē)高能量拋負(fù)荷載發(fā)生器 汽車(chē)電壓跌落模擬發(fā)生器
    防雷測(cè)試&高壓沖擊系統(tǒng)
    1.2/50μs沖擊電壓發(fā)生器 8/20μs沖擊電流發(fā)生器 10/700μs沖擊電壓發(fā)生器 4/10μS沖擊電流發(fā)生器 10/1000μs沖擊電流發(fā)生器 2ms方波沖擊電流發(fā)生器 10/350μs沖擊電流發(fā)生器 綜合波沖擊發(fā)生器
    EMC標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試項(xiàng)目分類(lèi)
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