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德國Mahr 馬爾 MarSurf M 400 粗糙度測量儀
MarSurf M 400.較好的移動設(shè)備
測量室以及生產(chǎn)領(lǐng)域都越來越需要無導(dǎo)塊掃描的表面評估。
這通常需要更熟練的操作員,更多時間和更多調(diào)整工作。
MarSurf M 400 在“移動表面度量”范圍內(nèi)提供了必要的功能,而且快速、簡單易用。
移動和固定測量儀器
粗糙度和波紋度測量
掃描長度高達(dá) 26 mm
超過 50 R,W 和 P 表面參數(shù)
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)自動選擇截止和掃描長度
動態(tài)校準(zhǔn)功能
驅(qū)動裝置和評估儀器之間可選有線和藍(lán)牙連接 (4 m)
磁性測頭支架(獨(dú)立測頭)BFW 250
機(jī)動測頭歸零設(shè)置(最大 7.5 mm)
測量原則 | 探針法 |
輸入 | 感應(yīng)式滑動測頭 |
測量范圍 mm | BFW 無導(dǎo)塊系統(tǒng) |
輪廓分辨率 | 測量范圍 +/- 250 µm:8 nm 測量范圍 +/- 25 µm:0.8 nm |
過濾器符合 ISO/JIS 標(biāo)準(zhǔn) | ISO 11562 標(biāo)準(zhǔn)高斯濾波 ISO 13565 標(biāo)準(zhǔn)濾波 |
采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1-5 |
接觸速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
測量力 (N) | 0.75 mN |
重量驅(qū)動單元 | 約 0.9 kg |
重量測量儀 | 約 1.0 kg |
表面參數(shù) | 超過 50 種符合當(dāng)前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標(biāo)準(zhǔn)的表面參數(shù)可用于 R-、P- 和 W |
可選附件
測量立柱:ST-D、ST-F 和 ST-G,測量立柱上的支架
其他附件:CT 120 XY 工作臺,平行虎鉗,V 形塊,用于帶 BFW 測頭系統(tǒng)的測桿
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