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一鍵式測量儀有哪些優(yōu)缺點?
一鍵式測量儀的核心硬件由上下光源、高像素CCD相機、大視角深遠心鏡頭和固定載體平臺組成,結(jié)構(gòu)相對簡單。一鍵式測量儀是一種新型的圖像測量技術(shù)。與傳統(tǒng)的二次元測量儀不同,它不再需要光柵尺位移傳感器作為精度標記,也不再需要放大產(chǎn)品圖像來保證測量精度。那么,一鍵式測量儀的優(yōu)缺點是什么呢?
一鍵式測量儀的優(yōu)點:
1.測量速度非常快,可以在2到5秒內(nèi)完成100個尺寸的繪圖。測量和公差評估的效率是傳統(tǒng)二次測量儀的幾十倍。
2.避免因測量行程增加而影響阿貝誤差,重復測量精度高,解決了同一產(chǎn)品重復測量數(shù)據(jù)一致性差的問題。
3.儀器結(jié)構(gòu)簡單,不需要位移標尺光柵尺,測量時不需要移動工作臺,所以儀器穩(wěn)定性好。
4.由于精度尺是CCD相機的像素點,像素點不會隨時間變化,也不會受到溫度的影響,儀器的精度相對穩(wěn)定,測量精度可以通過軟件自動校準。
一鍵式測量儀的缺點:
1.測量范圍小,在保證高精度的情況下,測量范圍不大于120mm。
2.測量功能狹窄,僅適用于基本平面幾何尺寸的測量和公差評價。
3.對產(chǎn)品要求高,產(chǎn)品輪廓不光滑。不精細的產(chǎn)品測量誤差大。價格更貴。
納諾測量專注于各種精密儀器的生產(chǎn)和銷售,產(chǎn)品包括三坐標測量儀、影像測量儀、一鍵測量儀和三維掃描儀。歡迎咨詢。
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