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測量的基本分類
測量的基本分類
測量方法分類 根據(jù)獲得測量結(jié)果的不同方式可分為:
直接測量和間接測量: 從測量器具的讀數(shù)裝置上直接得到被測量的數(shù)值或?qū)?biāo)準(zhǔn)值的偏差稱直接測量。如用游標(biāo)卡尺、外徑千分尺測量軸徑等。
通過測量與被測量有一定函數(shù)關(guān)系的量,根據(jù)已知的函數(shù)關(guān)系式求得被測量的測量稱為間接測量。如通過測量一圓弧相應(yīng)的弓高和弦長而得到其圓弧半徑的實際值。
測量和相對測量:測量器具的示值直接反映被測量量值的測量為測量。用游標(biāo)卡尺、外徑千分尺測量軸徑不僅是測量,也是測量。將被測量與一個標(biāo)準(zhǔn)量值進(jìn)行比較得到兩者差值的測量為相對測量。如用內(nèi)徑百分表測量孔徑為相對測量。
接觸測量和非接觸測量:測量器具的測頭與被測件表面接觸并有機械作用的測力存在的測量為接觸測量。如用光切法顯微鏡測量表面粗糙度即屬于非接觸測量。
單項測量和綜合測量:對個別的、彼此沒有聯(lián)系的某一單項參數(shù)的測量稱為單項測量。同時測量個零件的多個參數(shù)及其綜合影響的測量。用測量器具分別測出螺紋的中徑、半角及螺距屬單項測量;而用螺紋量規(guī)的通端檢測螺紋則屬綜合測量。
被動測量和主動測量:產(chǎn)品加工完成后的測量為被動測量;正在加工過程中的測量為主動測量。被動測量只能發(fā)現(xiàn)和挑出不合格品。而主動測量可通過其測得值的反饋,控制設(shè)備的加工過程,預(yù)防和杜絕不合格品的產(chǎn)生。
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