所謂干涉度量學(xué)是指利用光干涉的效應(yīng)來量測特定物理量的方法, 也就是說藉由觀察干涉條紋的變化, 來量測出待測物的特征。

干涉度量學(xué)以光的干涉原理為基礎(chǔ)來設(shè)計(jì)和運(yùn)用光學(xué)干涉儀或干涉裝置進(jìn)行精密量度的學(xué)科。

1892年，邁克爾遜用邁克爾遜干涉儀將標(biāo)準(zhǔn)米的長度以鎘紅線的波長來表示，1960年國際規(guī)定以Kr原子從2p到5d能級躍遷時(shí)輻射的光波波長作為長度的基準(zhǔn)，這是應(yīng)用光的干涉來測量和比較長度的正式開端。激光的出現(xiàn)，提供了高亮度、相干性好的單色光源，大大改善了經(jīng)典干涉儀的性能，并且促進(jìn)了新的干涉儀的出現(xiàn)。干涉量度的范圍十分廣泛，精確度很高。例如可用來精密測量光的波長，測量微小的距離、厚度和角度，研究光譜線的超精細(xì)結(jié)構(gòu)，精密測定折射率及其變化，測量星體的直徑和雙星間的距離。利用全息干涉儀還可測知物體表面變化的信息，甚至可用來研究生物的生長過程。