光學(xué)掃描系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理通常分為實(shí)時數(shù)據(jù)處理與事后數(shù)據(jù)處理兩種。實(shí)時數(shù)據(jù)處理主要用于試驗(yàn)任務(wù)實(shí)時監(jiān)視與指揮控制，對測量數(shù)據(jù)處理的速度要求較高，因此通常環(huán)節(jié)不宜過多，方法和計(jì)算公式較簡單，只要滿足安控和引導(dǎo)精度即可，因此誤差相對較大。通常實(shí)時數(shù)據(jù)處理僅含信息復(fù)原、合理性檢驗(yàn)和所需參數(shù)解算等流程，必要時加上簡化的大氣折射修正處理環(huán)節(jié)。

 

　　光學(xué)掃描系統(tǒng)具有如下優(yōu)點(diǎn)：測量精度高（測角精度：2~5?，測角精度：1~2m，作用距離：100~400km），且不受高空、低空、超低空條件限制；不受“黑障”和地面雜波干擾影響等。但與無線電測量系統(tǒng)比較，光學(xué)測量的作用距離較近，無法直接測得目標(biāo)的速度，易受氣象條件的影響。

 

　　事后數(shù)據(jù)處理的主要任務(wù)是在飛行試驗(yàn)結(jié)束后，立即處理部分重要數(shù)據(jù)，提供快速處理結(jié)果，供型號和指揮部門了解導(dǎo)彈或運(yùn)載火箭飛行試驗(yàn)的基本情況；經(jīng)各種誤差修正，完整解算出精確的彈道參數(shù)和其它參數(shù)，供用戶評定導(dǎo)彈或運(yùn)載火箭性能和精度，以及對型號設(shè)計(jì)的改進(jìn)和定型。對處理時間沒有嚴(yán)格限制（通常前者為一周以內(nèi)，后者約一個月左右），但由于觀測數(shù)據(jù)含有各種誤差（隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差），必須應(yīng)用完善的數(shù)學(xué)方法和精確的計(jì)算公式，對它們進(jìn)行修正和壓縮，并綜合利用眾多的測量信息，解算出導(dǎo)彈或運(yùn)載火箭在發(fā)射坐標(biāo)系下的位置、速度分量等彈道參數(shù)。因此事后數(shù)據(jù)處理流程多，方法精細(xì)、復(fù)雜，并充分利用數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論來提高數(shù)據(jù)處理結(jié)果的精度和質(zhì)量，以滿足用戶為評定制導(dǎo)精度所提出的測量精度要求。

 

　　應(yīng)用光電經(jīng)緯儀的測角數(shù)據(jù)A、E計(jì)算目標(biāo)位置參數(shù)時，經(jīng)緯儀的跟蹤點(diǎn)是彈體尾部火焰亮點(diǎn)；激光測距數(shù)據(jù)R的跟蹤點(diǎn)是彈上的后向反射器。雷達(dá)測量設(shè)備跟蹤點(diǎn)則是彈上的應(yīng)答機(jī)信號。