光學掃描系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理通常分為實時數(shù)據(jù)處理與事后數(shù)據(jù)處理兩種。實時數(shù)據(jù)處理主要用于試驗任務實時監(jiān)視與指揮控制，對測量數(shù)據(jù)處理的速度要求較高，因此通常環(huán)節(jié)不宜過多，方法和計算公式較簡單，只要滿足安控和引導精度即可，因此誤差相對較大。通常實時數(shù)據(jù)處理僅含信息復原、合理性檢驗和所需參數(shù)解算等流程，必要時加上簡化的大氣折射修正處理環(huán)節(jié)。

 

　　光學掃描系統(tǒng)具有如下優(yōu)點：測量精度高（測角精度：2~5?，測角精度：1~2m，作用距離：100~400km），且不受高空、低空、超低空條件限制；不受“黑障”和地面雜波干擾影響等。但與無線電測量系統(tǒng)比較，光學測量的作用距離較近，無法直接測得目標的速度，易受氣象條件的影響。

 

　　事后數(shù)據(jù)處理的主要任務是在飛行試驗結束后，立即處理部分重要數(shù)據(jù)，提供快速處理結果，供型號和指揮部門了解導彈或運載火箭飛行試驗的基本情況；經(jīng)各種誤差修正，完整解算出精確的彈道參數(shù)和其它參數(shù)，供用戶評定導彈或運載火箭性能和精度，以及對型號設計的改進和定型。對處理時間沒有嚴格限制（通常前者為一周以內，后者約一個月左右），但由于觀測數(shù)據(jù)含有各種誤差（隨機誤差和系統(tǒng)誤差），必須應用完善的數(shù)學方法和精確的計算公式，對它們進行修正和壓縮，并綜合利用眾多的測量信息，解算出導彈或運載火箭在發(fā)射坐標系下的位置、速度分量等彈道參數(shù)。因此事后數(shù)據(jù)處理流程多，方法精細、復雜，并充分利用數(shù)理統(tǒng)計理論來提高數(shù)據(jù)處理結果的精度和質量，以滿足用戶為評定制導精度所提出的測量精度要求。

 

　　應用光電經(jīng)緯儀的測角數(shù)據(jù)A、E計算目標位置參數(shù)時，經(jīng)緯儀的跟蹤點是彈體尾部火焰亮點；激光測距數(shù)據(jù)R的跟蹤點是彈上的后向反射器。雷達測量設備跟蹤點則是彈上的應答機信號。