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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法
濕熱試驗設(shè)備
將工作空間分為上、中、下三層,中層通過工作空間幾何中心點。將一定數(shù)量的溫度、相對濕度傳感器布放在其中規(guī)定的位置上。
相對濕度指示誤差、每5min溫度平均變化速率、風(fēng)速的檢驗方法。測量點數(shù)量及位置根據(jù)試驗設(shè)備容積的大小。
在1h內(nèi),使工作空間的相對濕度不低于95%RH,從此刻開始,使工作空間的溫濕度按GB/T 2423.4中規(guī)定的程序。
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
本部分適用于對GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗》。
檢驗方法溫度偏差、相對濕度偏差、溫度波動度、相對濕度波動度、溫度均勻度、相對濕度均勻度、溫度指示誤差。
GB/T 2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J:長霉(GB/T 2423.16-1999,idt IEC 60068-2-10:1988)
風(fēng)速測量儀器采用各種風(fēng)速儀,其感應(yīng)量不大于0.05m/s。噪聲測量儀器帶A計權(quán)網(wǎng)絡(luò)的聲級計,其測量結(jié)果的擴展不確定度(k=2)不大于1dB。
用水條件和其他條件應(yīng)符合GB/T 5170.1-2008第4章的規(guī)定。受檢試驗設(shè)備的外觀和安全要求應(yīng)符合GB/T 5170.1-2008第8章的規(guī)定。
濕度測量儀器采用于濕球濕度計或由其他濕度傳感器組成的濕度測量系統(tǒng),其測量結(jié)果的擴展不確定度(k=2)不大于被測濕度允許偏差的1/3。
對濕度均勻度;每5min溫度平均變化速率;風(fēng)速;升降溫特性;溫度指示誤差;溫度過沖量;相對濕度對沖量;溫度過沖恢復(fù)時;相對溫度過沖恢復(fù)時間;噪聲。
熱電偶傳感器應(yīng)符合GB/T 16839.1傳感器在空氣中的50%響應(yīng)時間應(yīng)在10s~40s之間,溫度測量系統(tǒng)的響應(yīng)時間應(yīng)小于40s。
在2h內(nèi)使相對濕度達(dá)到所規(guī)定的相對濕度值。自工作空間進(jìn)行入控溫控濕狀態(tài)后穩(wěn)定30min穩(wěn)定時間醉長不超過2h。
GB/T 6999 環(huán)境試驗用相對濕度查算表
GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱試驗方法GB/T 2423.4-2008,IEC 60068-2-30:2005,IDT)
所用試驗設(shè)備的守次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。
GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱試驗方法》和GB/T 2423.16《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J:長霉》
檢驗負(fù)載按GB/T 5170.1-2008第7章的規(guī)定或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。檢驗條件受檢試驗設(shè)備在檢驗時的氣候條件、電源條件。
注當(dāng)設(shè)備控制器的溫濕度示值達(dá)到設(shè)定值偏差帶時,可視為進(jìn)入控溫控濕狀態(tài)。交變溫?zé)嵩囼炘O(shè)備。
GB/T 5170 的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
按規(guī)定位置安裝溫度、相對濕度測量傳感器。使工作空間的溫度達(dá)到25℃±3℃,相對濕度保持在45%RH~75%RH之間。
傳感器不應(yīng)受冷熱源的直接輻射,測量點分別位于上、中、下三層。溫度測量點用O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示。
開始記錄各測量點的溫濕度值和設(shè)備指示的溫濕度值。每隔1min記錄一次,在30min內(nèi)共記錄30次。
GB/T 2423.6 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認(rèn)(GB/T 2424.6-2006,IEC 60068-3-6:2001,IDT)
檢驗用主要儀器及要求溫度測量儀器,采用山鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測量系統(tǒng)。
GBT 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備
檢驗步驟恒定溫?zé)嵩囼炘O(shè)備,按規(guī)定位置安裝溫度、相對濕度測量傳感器。在空載和室溫條件下,將風(fēng)速計的傳感器置于各測量點。
測量每點的風(fēng)速,取其醉大值作為該測量點的風(fēng)速。按規(guī)定的升溫速率升至所規(guī)定的溫度。升溫期間每1min測量一次中心點的溫度值。
相對濕度測量點用Oh、Dh、Hh、Lh表示。風(fēng)速測量點數(shù)量及布放位置與溫度測量點*相同。測量點E、O、Oh、U分別位于上、中、下層的幾何中心。
其測量結(jié)果的擴展不確定度(k-2)不大于被檢溫度允許偏差的1/3。鉑電阻的傳感器應(yīng)符合IEC 60751的等級A。
GB/T 2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(GB/T 2423.3-2006,IEC 60068-2-78:2001,IDT)
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