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EMS測試項(xiàng)目介紹之射頻輻射電磁場的抗擾度試驗(yàn)IEC61000－4－3（GB/T17626.3）
閱讀：2417 發(fā)布時(shí)間：2010-10-19| EMS測試項(xiàng)目介紹之射頻輻射電磁場的抗擾度試驗(yàn)IEC61000－4－3（GB/T17626.3） | ||||||||||||||||||
| 歡迎交流: 歡迎交流EMC:請(qǐng)加: 或登陸: 2.1 造成射頻輻射的起因
工作時(shí)所產(chǎn)生場強(qiáng)的經(jīng)驗(yàn)公式： E=3.0/d P 式中：P為的功率，W；d為至設(shè)備的距離，m。 上述公式反映了在離設(shè)備很近的地方使用功率較大的，會(huì)給設(shè)備造成很強(qiáng)的射頻輻射電磁場的干擾。 2.4 模擬試驗(yàn) 隨著技術(shù)的發(fā)展，電磁環(huán)境也隨著惡化，測試頻率已由早期的（27～500）MHz，擴(kuò)展到（80～1000）MHz。其中高頻段的擴(kuò)展是與的普遍使用有關(guān)，它的工作頻率現(xiàn)已擴(kuò)展到900MHz（甚至更高）；對(duì)80MHz的選擇則與對(duì)測試場地的要求、對(duì)射頻功率放大器的功率要求和對(duì)天線的選用要求有關(guān)。至于80MHz以下部分，將由IEC61000－4－6標(biāo)準(zhǔn)加以補(bǔ)充。 試驗(yàn)時(shí)要用1kHz正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制，調(diào)制深度為80％，參見圖3（在早期的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中不需要調(diào)制）。將來有可能再增加一項(xiàng)鍵控調(diào)頻（歐共體標(biāo)準(zhǔn)已采用），調(diào)制頻率為200Hz，占空比為1∶1。 2．5 基本試驗(yàn)儀器 （1）信號(hào)發(fā)生器（主要指標(biāo)是帶寬、有調(diào)幅功能、能自動(dòng)或手動(dòng)掃描、掃描點(diǎn)上的留駐時(shí)間可設(shè)定、信號(hào)的幅度能自動(dòng)控制等）。 （2）功率放大器（要求在3m法或10m法的情況下，達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的場強(qiáng)。對(duì)于小產(chǎn)品，也可以采用1m法進(jìn)行試驗(yàn)，但當(dāng)1m法和3m法的試驗(yàn)結(jié)果有爭執(zhí)時(shí)，以3m法為準(zhǔn)）。 （3）天線（在不同的頻段下使用雙錐和對(duì)數(shù)周期天線。國外已有在全頻段內(nèi)使用的復(fù)合天線）。 （4）場強(qiáng)測試探頭。 （5）場強(qiáng)測試與記錄設(shè)備。 當(dāng)在基本儀器的基礎(chǔ)上再增加一些諸如功率計(jì)、計(jì)算機(jī)（包括的控制軟件）、場強(qiáng)探頭的自動(dòng)行走機(jī)構(gòu)等，可構(gòu)成一個(gè)完整的自動(dòng)測試系統(tǒng)。 2．6 試驗(yàn)的場地 采用電波暗室（主要考慮場地均勻性問題。如果在這個(gè)電波暗室中還要考慮產(chǎn)品本身在工作中產(chǎn)生的電磁波騷擾測試時(shí)，則這個(gè)電波暗室還涉及到與開闊場的比對(duì)問題）。 為了保證試驗(yàn)結(jié)果的可比性和重復(fù)性，要對(duì)試驗(yàn)場地的均勻性進(jìn)行校驗(yàn)。 2．7 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)在電波暗室中進(jìn)行，試驗(yàn)時(shí)人員不能進(jìn)入，用工業(yè)電視監(jiān)視試品的工作情況（或從試品引出可以說明試品工作狀態(tài)的信號(hào)至測定室，由專門儀器予以判定）。暗室內(nèi)有天線（包括天線的升降塔）、轉(zhuǎn)臺(tái)、試品及工業(yè)電視攝象機(jī)。 工作人員、測定試品性能的儀器、信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)和計(jì)算機(jī)等設(shè)備在測定室里。高頻功率放大器則放在功放室里。 試驗(yàn)中，對(duì)試品的布線非常講究，應(yīng)記錄在案，以便必要時(shí)重現(xiàn)試驗(yàn)結(jié)果。 2．8 場強(qiáng)、試驗(yàn)距離與功率放大器之間的關(guān)系（僅供參考）。 場強(qiáng)、試驗(yàn)距離與功率放大器的關(guān)系見表3。 表3 場強(qiáng)、試驗(yàn)距離與功率放大器關(guān)系
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