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電快速脈沖群發(fā)生器測試儀器的校準（GB/T17626.4 IEC61000-4-4）
閱讀：731 發(fā)布時間：2010-10-12電快速脈沖群發(fā)生器
電快速脈沖群（Electrical Fast Transient / Burst，簡稱EFT/B）試驗的目的是驗證電氣和電子設(shè)備對來自操作暫態(tài)過程（諸如開斷感性負載、繼電器觸頭彈跳等）中各種類型的瞬變擾動的抗擾性。試驗將一系列快速瞬變電脈沖群耦合到電氣和電子設(shè)備的電源端口、信號和控制端口。試驗中用到的主要設(shè)備包括快速瞬變電脈沖群發(fā)生器、交/直流主電源端口的耦合/去耦合網(wǎng)絡(luò)（簡稱CDN）和容性耦合夾。電快速瞬變脈沖群發(fā)生器的輸出單脈沖如。
為了能夠比較由不同的EFT/B發(fā)生器所得出的試驗結(jié)果，應(yīng)檢驗發(fā)生器的特性。EFT/B發(fā)生器的輸出通過一個50Ω 的同軸衰減器接至示波器上，測試設(shè)備的帶寬至少為400MHz，應(yīng)該對一個脈沖群內(nèi)的脈沖上升時間、脈沖持續(xù)時間和脈沖的重復(fù)率進行監(jiān)視。
IEC61000-4-4中存在一個阻抗匹配的問題：雖然EFT/B發(fā)生器都具有50Ω 的源阻抗—在50Ω 的負載阻抗與之匹配時將提供標準的電壓/電流波形，但實際應(yīng)用中的電子產(chǎn)品往往不具有50Ω 的輸入阻抗。為解決這一問題，很早就有提議用1000Ω 的負載來檢驗波形。IEC61000-4-4 （Amendment 2）將于2004年7月1日實施，此版與前面版本的主要區(qū)別就是提出對EFT/B發(fā)生器的輸出波形校驗應(yīng)分別在50Ω 和1000Ω 下進行。關(guān)于這一點作者將在其他文章中探討。
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