半導(dǎo)體靜電放電發(fā)生器/芯片，集成電路靜電放電測(cè)試儀/MIL-STD-883G、 METHOD 301-技術(shù)文章-蘇州泰思特電子科技有限公司

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閱讀：1339 發(fā)布時(shí)間：2010-9-30

靜電放電發(fā)生器專門為IC、LED等半導(dǎo)體器件的抗靜電測(cè)試而設(shè)計(jì)，儀器集成人體放電模式（HBM）和機(jī)械放電模式（MM）通過更換阻容模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)兩種測(cè)試功能。

MIL-STD-883G、 METHOD 3015.7、EIAJED-4701ConditionA、EIAJED-4701ConditionB、GJB-548A-3015、SJ/T11394、SJ/T11399

型號(hào)	ESD-606G
項(xiàng)目	MIL-STD-883E METHOD3015.7 IEC747-1	EIAJED-4701 ConditionA
輸出電壓	0—8KV±5%
輸出電壓極性	正/負(fù)
放電電容	人體模式：100pF	機(jī)械模式：200pF
放電電阻	人體模式：1.5kΩ	機(jī)械模式：0 Ω
工作形式	放電時(shí)間間隔在0.1~99.9s之間，操作方式自由切換單次放電，連續(xù)放電，手動(dòng)操作，自動(dòng)放電
放電次數(shù)設(shè)定	1~9999
放電間隔	0.1~9.9s
工作電源	AC220V±10%,50Hz
環(huán)境溫度	15-35℃
外形尺寸	466×356×186mm

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