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　　　　　手機進網(wǎng)預測試項目簡介

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一：手機進網(wǎng)預測試可以分為四大部分：
（1） TA---型號核準測試
（2） EMC---電磁兼容測試
（3） Field try---場測（專業(yè)試用）
（4） NAL---電信設備進網(wǎng)測試

二：EMC---電磁兼容測試介紹
　　EMC全稱Electro-Magnetic Compatibility。指的是設備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構成不能承受的電磁騷擾的能力。EMC是評價產(chǎn)品質量的一個重要指標。
EMC測試包括：
（1）EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測試
此測試之目的為：檢測電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。
（2）EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）---電磁抗擾度測試
此測試之目的為：檢測電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。
其中EMI包括：
（1） 輻射騷擾測試（RE）---測試標準：EN55022
（2） 傳導騷擾測試（CE）---測試標準：EN55022
（3） 諧波電流測試（Harmonic）---測試標準：EN 61000-3-2
（4） 電壓變化與閃爍測試（Flicker）---測試標準：EN 61000-3-3
EMS包括：
（1） 靜電放電抗擾度測試（ESD）---測試標準：EN6100-4-2
（2） 射頻電磁場輻射抗擾度（RS）---測試標準：EN61000-4-3
（3） 射頻場感應的傳導騷擾抗擾度（CS）---測試標準：EN61000-4-6
（4） 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（EFT）---測試標準：EN61000-4-4
（5） 浪涌（沖擊）抗擾度（SURGE）---測試標準：EN61000-4-5
（6） 電壓暫降，短時中斷和電壓變化抗擾度測試（DIP）---測試標準：EN61000-4-11
（7） 工頻磁場抗擾度測試（PFMF）---測試標準：EN61000-4-8

三：手機進網(wǎng)預測試中涉及到的EMC測試項目
上面就一般電器產(chǎn)品的EMC測試項目做了一些說明，本節(jié)主要介紹手機在進網(wǎng)測試中所需進行的EMC測試。
EMI方面：
（1） 輻射連續(xù)騷擾（RE）---測試標準：GB9254-1998
（2） 傳導連續(xù)騷擾（CE）---測試標準：GB9254-1998
（3） 輻射雜散騷擾（SE（R））---測試標準：YD1032-2000中7.2
（4） 傳導雜散騷擾（SE（C））---測試標準：YD1032-2000中7.1
EMS方面：
（1） 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試（EFT）---測試標準：GB/T 17626.4-1998
（2） 靜電放電抗擾度（ESD）---測試標準：GB/T 17626.2-1998
（3） 浪涌（沖擊）抗擾度（SURGE）---測試標準：GB/T 17626.5-1998
（4） 射頻場感應的傳導騷擾抗擾度（CS）---測試標準：GB/T 17626.6-1998
（5） 射頻電磁場輻射抗擾度（RS）---測試標準：GB/T 17626.3-1998
（6） 電壓暫降，短時中斷和電壓變化抗擾度（DIP）---測試標準：GB/T 17626.11-1998
輻射與傳導的區(qū)別：
輻射：物體都以電磁波的形式時刻不停地向外傳送能量,這種傳送能量的方式稱為輻射。物體通過輻射所放出的能量，稱為輻射能，簡稱輻射。
傳導：通過某種實物連接而產(chǎn)生的能量傳遞。
連續(xù)騷擾：對一個特定設備的效應不能分解為一串能清晰可辨的效應的電磁騷擾。
輻射連續(xù)騷擾也可稱為輻射騷擾或者輻射干擾即RE，其測試目的為判斷手機自身所輻射出電磁能量的強度。輻射騷擾超標的產(chǎn)品可能使設備或系統(tǒng)性能劣化或者對生物和非生物起不良反映。
傳導連續(xù)騷擾也可稱為傳導騷擾或者傳導干擾即CE。一般來說此項測試目的在于檢測連接到城市公共供電網(wǎng)絡的手機對于公共電網(wǎng)的影響。
其中雜散（Spurious Emissions）項目是針對手機而特別提出的。所謂雜散即必要帶寬以外頻率發(fā)射（并且不包括由調制過程產(chǎn)生的必要帶寬以外頻率的發(fā)射）。
雜散騷擾：除載頻和與正常調制相關的頻帶以外離散頻率上的騷擾。可以分為傳導和輻射兩種（此處傳導與輻射的測試目的與RE和CE類似）。因此在EMI中有兩條有關手機雜散的測試項。
SE（R）測試：電臺裝有天線在輻射試驗場測得的雜散窄帶射頻分量。它包括諧波和非諧波分量及寄生分量。此項測試即測試其雜散窄帶射頻分量大小。
SE（C）測試：在有匹配負載的天線端測得的雜散射頻分量。其特征通常是在離散頻率上或窄頻帶內有一顯著的分量，它包括諧波和非諧波分量以及寄生分量，不包括為傳輸信息的必要頻帶極近處的分量。此項測試即檢測手機在被測頻段內產(chǎn)生的諧波和非諧波分量以及寄生分量。
EFT測試：這是一種耦合到電子設備的電源線、控制線和信號線上的，且由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群試驗。試驗的要素是瞬變的上升時間、重復率和能量。
ESD測試：模擬手機在遭受到靜電放電時性能是否會下降或失效,放電分為直接放電和間接放電兩類。對導電表面采用直接接觸放電的方式；對絕緣表面采用空氣放電方式。接觸放電為形式，只有在不能用接觸放電的地方（如表面涂有絕緣層,手機鍵盤縫隙等情況）才改用空氣放電。
SURGE測試：測試手機電源線和內部連接線在經(jīng)受來自開關切換及自然界雷擊后是否會影響到其各項功能的一種測試。
CS測試：在通常情況下，被干擾設備的尺寸要比干擾頻率的波長短得多，而設備的引線（包括電源線、通信線和接口電纜等）的長度則可能與干擾頻率的幾個波長相當，這樣，這些引線就可以通過傳導方式（zui終以射頻電壓和電流所形成的近場電磁騷擾在設備內部）對設備產(chǎn)生干擾。此項測試目的即評價電氣和電子設備對由射頻場感應所引起的傳導騷擾的抗擾度。
RS測試：射頻輻射電磁場對設備的干擾往往是由設備操作、維修和安全檢查人員在使用時所產(chǎn)生的，其他如無線電臺、電視發(fā)射臺、移動無線電發(fā)射機和各種工業(yè)電磁輻射源（以上屬有意發(fā)射），以及電焊機、晶閘管整流器、熒光燈工作時產(chǎn)生的寄生輻射（以上屬無意發(fā)射），也都會產(chǎn)生射頻輻射干擾。此項測試目的是建立一個共同的標準來評價電氣和電子設備的抗射頻輻射電磁場干擾的能力。
DIP測試：電壓瞬時跌落、短時中斷是由電網(wǎng)、變電設施的故障或負荷突然出現(xiàn)大的變化所引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的跌落或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續(xù)變化引起的。此項測試模擬電壓的突變效應，以便建立一種評價電氣和電子設備在經(jīng)受這種變化時的抗擾性通用準則。
以上對整個手機進網(wǎng)預測試EMC部分進行了簡要介紹，具體相關測試方法、測試場地要求、測試步驟以及測試限值可以查詢上述所附之國家規(guī)范。