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射頻屏蔽室屏蔽效能的測試技術(shù)
閱讀:1877 發(fā)布時間:2010-6-29射頻屏蔽室屏蔽效能的測試技術(shù) 1
這些年來,發(fā)表了很多關(guān)于射頻屏蔽室和屏蔽小室的文章。這些文章涉及到屏蔽室的購買、結(jié)構(gòu)設(shè)計和安裝,以及有關(guān)的接地和電氣技術(shù)。雖然這些文章提供了許多信息,但沒有一篇文章說清了屏蔽室和屏蔽小室的屏蔽效能測量技術(shù)。本文解釋和描述了工業(yè)上所采用的屏蔽室屏蔽效能的測量過程。
2 屏蔽效能測量
屏蔽室或屏蔽小室的屏蔽效能測量或性能測量是安裝的zui后階段,這也可能是zui重要的階段。不幸的是,測量過程被認(rèn)為是麻煩的或在某種程度上被認(rèn)為是不可思儀的。事實上,屏蔽效能測量很簡單,并和MIL-STD-220也就是插入損耗測量標(biāo)準(zhǔn)是一致的。主要的區(qū)別在于測量所用的設(shè)備不同。
屏蔽效能測量基本上等同于電子測量設(shè)備的校準(zhǔn)。和測量設(shè)備一樣,當(dāng)屏蔽小室的屏蔽效能降低時就需要對其進(jìn)行校準(zhǔn)。
當(dāng)校準(zhǔn)屏蔽小室或測定屏蔽小室的屏蔽效能時,要使用輻射測量技術(shù)。所幸的是美國軍方和安全部門已建立了相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)描述了特定頻率和測量場地條件下的測量方法、設(shè)備和測量過程。這些測量過程經(jīng)過微小的調(diào)整,就能應(yīng)在任何屏蔽小室的安裝,并滿足用戶規(guī)則。
測量屏蔽效能zui經(jīng)常用到的兩個測量標(biāo)準(zhǔn)或測量程序是MIL-STD-285和NSA 65-6。這些文件描述了對設(shè)備配置和測量場地的規(guī)則。每個程序中也規(guī)定了測量頻率和衰減量。
3 測量標(biāo)準(zhǔn)的描述
3.1 MIL-STD-285
近年來,MIL-STD-285不但在工業(yè)界廣為應(yīng)用,而且迄今為止應(yīng)用。MIL-STD-285規(guī)定的測量程序在屏蔽室規(guī)范上經(jīng)常被引用,但其頻率需根據(jù)用戶規(guī)則進(jìn)行調(diào)整。
MIL-STD-285是*個頒布的在測量射頻屏蔽小室標(biāo)準(zhǔn),它頒布于1956年6月,在替代頒布于1954年8月的MIL-A-18123(SHIPS)。
MIL-STD-285標(biāo)準(zhǔn)的主要目的是為了建立說說標(biāo)準(zhǔn)或者方法,在測量射頻屏蔽室的衰減特點,這些屏蔽室在頻率范圍從100KHz到10GHz的電子測量。該標(biāo)準(zhǔn)包括對測量頻率、測量場地和屏蔽衰減(或者屏蔽效能)的規(guī)則。MIL-STD-285也提供了關(guān)于測量所需設(shè)備種類的描述。
盡管MIL-STD-285標(biāo)準(zhǔn)覆蓋了從100KHz到10GHz的頻率范圍,但它僅僅規(guī)則測量屏蔽室在5個頻率點的衰減特點(參見表1)。
表1 MIL-STD-285和NSA65-6對衰減的規(guī)則
起初MIL-STD-285專門用來評價屏蔽室,它規(guī)定得極為詳盡,甚至包括建議的測量點的位置,明確規(guī)定測量應(yīng)在公用設(shè)施入口、門、觀測窗等附近位置進(jìn)行。MIL-STD-285也規(guī)則要給出屏蔽室四個面的測量結(jié)果,以及天線要根據(jù)截面接縫(section seam)和平面接縫(panel seam)進(jìn)行水平和垂直定向的方法。
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