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    平板檢定規(guī)程(JJG117-91)給出了兩項(xiàng)比較確切反映平面度測量方法

    閱讀:3916          發(fā)布時(shí)間:2008-12-13

    高準(zhǔn)確度平面度測量方法的研究

    1引言

    中等尺寸以上平面的高準(zhǔn)確度平面度測量,是目前幾何量測量中的一個(gè)難點(diǎn)。鑄鐵平板及巖石平板國家標(biāo)準(zhǔn)(GB 4986-85 和 GB 4987-85)均規(guī)定有000級準(zhǔn)確度等級的平板,但平板國家檢定規(guī)程目前只有00級準(zhǔn)確度等級以下的(JJG 117-91),而沒有000級平板的。此外,國內(nèi)也未見有關(guān)于000級平板的測量方法及其測量不確定度等問題的報(bào)導(dǎo),為此本文進(jìn)行了這方面的討論研究。

    2平面度測量方法的評價(jià)指標(biāo)

    國內(nèi)某些研究以直線度測量的技術(shù)指標(biāo)作為評價(jià)平面度測量的指標(biāo),如給出某平面度測量方法的不確定度為2.5×106L(μm),顯然, 這是不恰當(dāng)?shù)模驗(yàn)槠矫娑葴y量的誤差傳遞及其綜合遠(yuǎn)較直線度測量復(fù)雜。

    平板檢定規(guī)程(JJG 117-91)給出了兩項(xiàng)比較確切反映平面度測量方法的評價(jià)指標(biāo):首先根據(jù)被測平板的準(zhǔn)確度等級及其平面度公差值,規(guī)定了平面度檢定方法的不確定度值;其次根據(jù)目前多數(shù)平面度測量方法的特點(diǎn),又規(guī)定了被測截面重復(fù)檢定點(diǎn)偏差值的重合度,該兩項(xiàng)指標(biāo)的允許值如表1所示,表中T為被檢平板平面度公差值。

    表1檢定方法不確定度和重復(fù)檢定點(diǎn)偏差值重合度的允許值



    平板準(zhǔn)確度等級 00 0 1 2 3
    檢定方法的不確定度Δf > ≤T/3 ≤T/4 ≤T/5 ≤T6 ≤T/8
    重復(fù)檢定點(diǎn)偏差值的重合度Δc T/6 T/8 T/10 T/12 T/16

    對于000級平板,因目前尚無檢定規(guī)程,故其檢定方法的Δf及Δc值沒有統(tǒng)一規(guī)定,根據(jù)表1的數(shù)值作者建議采用如表2所示的允許值。

    表2000級平板Δf、Δc允許值(建議值)

    檢定方法的不確定度Δf ≤T/2
    重復(fù)檢定點(diǎn)偏差值的重合度Δc T/4



    3.1研究對象及技術(shù)要求

    本文以400mm×400mm~1000mm×1000mm的中等尺寸000級平板為研究對象,該尺寸段000級平板的平面度公差值國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定如表3所示:

    表3中等尺寸000級平板平面度公差值單位: μm



    平板尺寸 400mm×400mm 630mm×630mm 800mm×800mm 1000mm×630mm
    000級 2.0 2.0 2.0 2.5

    若實(shí)際測量以000級平板700mm×700mm為例,則由表3及表2,其檢定方法應(yīng)滿足:

    (1)

    3.2測量原理及方法

    分度值為0.2″或0.001mm/m的電子水平儀或自準(zhǔn)直儀是目前生產(chǎn)實(shí)際中應(yīng)用zui普遍的高準(zhǔn)確度平面度測量器具,同時(shí)它們也是檢定規(guī)程規(guī)定的檢定00級平板的檢定工具。現(xiàn)采用 HP 5528A雙頻激光測量系統(tǒng)的直線度測量部件進(jìn)行平面度測量。
    如圖1所示。1為雙頻激光器,偏振面相互垂直的兩偏振光f1f2經(jīng)渥拉斯頓棱鏡2后,f1f2光分開成夾角θ垂直射向雙面反射鏡3的兩個(gè)反射面,并由兩個(gè)反射面返回接收器,其中兩反射面的夾角α與θ互補(bǔ)。測量時(shí),雙面反射鏡3固定不動,當(dāng)棱鏡2隨底座4沿被測表面移動,因各采樣點(diǎn)高低不平而使棱鏡2有上下位移時(shí),f1光和f2光之間光程差發(fā)生變化,由顯示器便可測得被測表面各采樣點(diǎn)高低不平的數(shù)值。測量在1500mm×3000mm巖石平板的700mm×700mm區(qū)域內(nèi)進(jìn)行。按檢定規(guī)程規(guī)定,取封閉米字線布線,測8個(gè)截面(Ⅰ、Ⅱ、…、Ⅷ),如圖2所示,對每一個(gè)測量截面,渥拉斯頓棱鏡沿直尺R導(dǎo)向移動,每個(gè)截面測5個(gè)點(diǎn),共檢25點(diǎn)(a1…a5、…、e1…e5),然后通過數(shù)據(jù)處理,zui后得到該平面的平面度誤差值。



    圖1測量原理

    3.3測量方法誤差計(jì)算
    誤差計(jì)算分三步進(jìn)行。
    3.3.1各采樣點(diǎn)讀數(shù)值的測量不確定度Δa
    按圖1測量原理,圖2中各采樣點(diǎn)彼此獨(dú)立讀數(shù),可取各采樣點(diǎn)讀數(shù)值的測量不確定度相等,Δa由以下幾項(xiàng)組成:



    圖2測點(diǎn)分布

    (1) 測量部件光學(xué)基準(zhǔn)誤差Δ1,由 HP 5528A使用說明書可知Δ1=0.15μm。
    (2) 測量部件測量誤差Δ2,由 HP 5528A 使用說明書可知Δ2為讀數(shù)值的3.5%,通過調(diào)試各被測截面首尾兩點(diǎn),每一截面各采樣點(diǎn)實(shí)際讀數(shù)值不大于4μm,故得Δ2=4×3.5%=0.14μm。
    (3) 測量底板與被測表面的接觸誤差Δ3,測量底板與被測表面在同一位置多次重復(fù)接觸時(shí),其示值有分散,實(shí)測結(jié)果為:Δ3=0.2μm。
    (4) 圖1中L段光路激光束漂移引起的誤差Δ4,該項(xiàng)誤差隨L的加大而加大,當(dāng)環(huán)境較穩(wěn)定時(shí),實(shí)測表明,在L=1000mm時(shí)為0.3μm,取Δ4=0.3μm。
    除上述誤差外,文獻(xiàn)[1]分析計(jì)算表明,圖1所示測量原理,原理上不受圖中l(wèi)段光路激光束平行漂移的影響,同時(shí)l段光路激光束角漂移以及渥拉斯頓棱鏡擺角β引起的影響均微小,故可忽略不計(jì)。
    由上可得各采樣點(diǎn)讀數(shù)值的測量不確定度Δa為:

    (2)

    3.3.2各采樣點(diǎn)偏差值的測量不確定度Δδi
    為求平面度誤差,各采樣點(diǎn)的讀數(shù)值需歸一處理為各采樣點(diǎn)的偏差值,當(dāng)按對角線法歸一時(shí),根據(jù)數(shù)據(jù)歸一時(shí)的運(yùn)算傳遞關(guān)系,可求得各采樣點(diǎn)偏差值的測量不確定度Δδi,不同的采樣點(diǎn)有不同的Δδi值,其分布如圖3所示(推導(dǎo)過程從略)。



    圖3采樣點(diǎn)偏差值測量不確定度分布

    3.3.3平面度誤差的測量不確定度Δf
    文獻(xiàn)[2]給出了按zui小區(qū)域法在三種判別準(zhǔn)則條件下求得的平面度誤差的測量不確定度的計(jì)算公式。
    如在交叉準(zhǔn)則條件下時(shí),平面度誤差的測量不確定度為:

    中(x1,y1)、(x2,y2)為交叉準(zhǔn)則中兩個(gè)高點(diǎn)的位置,(x3,y3)、(x4,y4)為兩個(gè)低點(diǎn)的位置,Δδz1、Δδz2、Δδz3、Δδz4為這四個(gè)點(diǎn)的偏差值的測量不確定度,當(dāng)已知兩個(gè)高點(diǎn)和兩個(gè)低點(diǎn)的位置后,由公式(4)就可求得k1、k2、k3、k4值,再由圖3就可知道Δδz1、Δδz2、Δδz3、Δδz4值,代入公式(3)就可求出平面度誤差的測量不確定度Δf。
    關(guān)于三角形準(zhǔn)則及直線準(zhǔn)則的平面度誤差測量不確定度的類似表達(dá)式此處從略,可參見文獻(xiàn)[2]。
    由公式(3)可見,Δf隨ki和Δδi而變,而ki和Δδi又隨評定平面度誤差時(shí)所取的高點(diǎn)低點(diǎn)的位置而變,由于Δδi值大的高點(diǎn)低點(diǎn)位置,其ki值不一定大,反之亦然。因此,采用試算法算得在三種判別準(zhǔn)則條件下各種高點(diǎn)低點(diǎn)組合時(shí),得到的平面度誤差的測量不確定度的zui大值約為:


    由此可見,圖1圖2所示的測量原理及方法,其平面度誤差的測量不確定度Δf可滿足公式(1)的要求,即可滿足對700mm×700mm 000級平板的檢定要求。
    4測試結(jié)果
    測試在1500mm×3000mm巖石平板的700mm×700mm區(qū)域內(nèi)進(jìn)行。按圖2布線,測8個(gè)截面,每個(gè)截面測5點(diǎn),分別在上午、下午和晚上連續(xù)數(shù)天,測得7組數(shù)據(jù),各采樣點(diǎn)讀數(shù)值按對角線法歸一后,各采樣點(diǎn)的偏差值列于表4

    根據(jù)表4數(shù)據(jù),采用平面度zui小區(qū)域新算法[3],算得7次測回的平面度誤差值f,同時(shí),由此求得的測量方法標(biāo)準(zhǔn)差均列于表5。


    表4中,c3,c′3,c″3為分別按e1a5,a3e3,c1c5三個(gè)截面得到的采樣點(diǎn)c3點(diǎn)的偏差值,由此得到的重復(fù)檢定點(diǎn)c3點(diǎn)偏差值的重合度Δc見表6。

    表6重復(fù)檢定點(diǎn)c3點(diǎn)偏差值的重合度Δc單位: μm

    測回 1 2 3 4 5 6 7
    Δc=c3-c3′ 0.046 0.439 -0.163 0.566 0.083 0.133 0.308
    Δc=c3-c3″ 0.098 0.441 0.012 0.474 0.258 0.208 0.417


    表6中重合度Δc除一個(gè)值為0.566μm略大于0.5μm外,其余均小于0.5μm。可見,測試結(jié)果的Δf及Δc值均滿足式(1)的要求,即Δf=3σ<1μm,Δc≤0.5μm。

    5結(jié)論

    (1) 實(shí)際測試及誤差計(jì)算表明,該測量方法可以滿足對700mm×700mm 000級平板的測量要求。
    (2) 限于條件,本文只在700mm×700mm區(qū)域上進(jìn)行了測量(對角線長為1000mm),若檢測1000mm×1000mm平板,此時(shí)對角線長為1400mm,圖1中L段光路的激光束漂移引起的誤差將增大,在誤差計(jì)算中可取Δ4=0.45μm,而其它各項(xiàng)誤差均與前者相同沒有變動,但平板尺寸加大后,其平面度公差值T也加大,故經(jīng)誤差分析計(jì)算,本方法仍然可以滿足對1000mm×1000mm 000級平板的測量要求。
    (3) 影響本方法測量不確定度的主要因素是圖1中L段光路的激光束漂移,本文實(shí)驗(yàn)是在實(shí)驗(yàn)室空間較大、無對流通道、測試現(xiàn)場無人員流動、且沒有采取其它措施的情況下進(jìn)行的,對于更大尺寸的平板,除保持現(xiàn)場環(huán)境穩(wěn)定外,試驗(yàn)表明,采取對同一采樣點(diǎn)多次采樣平均,對激光束L段光路加罩等措施均有利于減小激光束漂移的影響,這方面工作有待于進(jìn)一步研究。
     

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