高低溫試驗(yàn)箱|恒溫試驗(yàn)箱|恒溫試驗(yàn)機(jī)|低溫箱|低溫試驗(yàn)箱|高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱

產(chǎn) 品說 明

本高低溫試驗(yàn)箱可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

參 照 標(biāo) 準(zhǔn)

本高低溫試驗(yàn)箱滿足GB2423.1－2001試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》; GB2423.2－2001試驗(yàn)B《低溫試驗(yàn)方法》以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592—89《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗(yàn)。

主要技術(shù)參數(shù)

l      型號(hào)：　GDW－100D型  

l      工作室尺寸（D×W×H）： 450×450×500㎜

l      溫度范圍：   －60℃～150℃

l      溫度均勻度：   ≤ 2℃  （空載時(shí)）

l      溫度波動(dòng)度：   ±0.5℃ （空載時(shí)）

l      升降溫速率：  0.7℃～1.0℃/min 

l      時(shí)間設(shè)定范圍：   0～999 小時(shí)