法國Phasics SID4系列波前分析儀-上海屹持光電技術(shù)有限公司

產(chǎn)地	進口	外形尺寸（長×寬×高）	54×46×75.3mm
銷售區(qū)域	全國,華東,華南,華北,華中,東北,西南,西北,港澳臺,海外	重量	0.25kg

法國PhasicsSID4系列波前傳感器

-----四波橫向剪切干涉波前傳感器

產(chǎn)品介紹：法國PHASICS 的波前分析儀（上海屹持光電代理），基于其波前測量專li——四波橫向剪切干涉技術(shù)（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為夏克-哈特曼技術(shù)的改進型，這種獨te的專li技術(shù)將高分辨率和大動態(tài)范圍很好地結(jié)合在一起。能實現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。

主要應用領(lǐng)域：

1. 激光光束參數(shù)測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數(shù)

2. 自適應光學：焦斑優(yōu)化，光束整形

3. 元器件表面質(zhì)量分析：表面質(zhì)量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑

4.光學系統(tǒng)質(zhì)量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數(shù), 光學鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制

5. 熱成像分析，等離子體特征分析

6. 生物應用：蛋白質(zhì)等組織定量相位成像

產(chǎn)品特點：

1. 高分辨率：采樣點可達120000個

2.可直接測量：消色差設計，測量前無需再次對波長校準

3.消色差：干涉和衍射對波長相消

4.高動態(tài)范圍：高達500μm

5.防震設計，內(nèi)部光柵橫向剪切干涉，對實驗條件要求簡單，無需隔震平臺也可測試

型號參數(shù)：

型號	SID4	SID4-HR	SID4-DWIR	SID4-SWIR	SID4-NIR	SID4-UV-HR	SID4- UV
孔徑	3.6 × 4.8 mm2	8.9 × 11.8 mm2	13.44 × 10.08 mm2	9.6 × 7.68 mm2	3.6 × 4.8 mm2	13.6 ×10.96 mm2	8.0 × 8.0 mm2
空間分辨率	29.6 µm	29.6 µm	68 µm	120 µm	29.6 µm	40 µm	32 µm
采樣點/測量點	160 × 120	400 × 300	160 × 120	80 × 64	160 × 120	345 × 275	250 × 250
波長	400nm~1100nm	400nm~1100nm	3~5µm,8~14 µm	0.9 ~ 1.7 µm	1.5 ~ 1.6 µm	190 ~ 400 nm	250 ~ 400 nm
動態(tài)范圍	> 100 µm	> 500 µm	N/A	~ 100 µm	> 100 µm	> 200 µm	> 200 µm
精度	10 nm RMS	15 nm RMS	75 nm RMS	10 nm RMS	> 15 nm RMS	10 nm RMS	10 nm
靈敏度	< 2 nm RMS	< 2 nm RMS	< 25 nm RMS	3nm RMS(高增益） <1nmRMS(低增益）	< 11 nm RMS	1nm RMS @250nm,2µJ/cm2	0.5 nm
采樣頻率	> 60 fps	> 10 fps	> 50 fps	25/30/50/60 fps	60 fps	30 fps	30 fps
處理頻率	10 Hz (高分辨率)	3 Hz (高分辨率)	20 Hz	> 10 Hz (高分辨率）	10 Hz	> 3 Hz (高分辨率）	1 Hz
尺寸	54×46×75.3mm	54×46×79mm	85×116×179mm	50×50×90mm	44×33×57.5mm	51 × 51 × 76 mm	95×105×84mm
重量	250 g	250 g	1.6 kg	300 g	250 g	300 g	900 g

四波橫向剪切干涉技術(shù)背景介紹

Phasics四波橫向剪切干涉（上海屹持光電代理）：當待測波前經(jīng)過波前分析儀時，光波通過特制光柵（圖1）后得到一個與其自身有一定橫向位移的復制光束，此復制光波與待測光波發(fā)生干涉，形成橫向剪切干涉，兩者重合部位出現(xiàn)干涉條紋（圖2）。被測波前可能為平面波或者匯聚波，對于平面橫向剪切干涉，為被測波前在其自身平面內(nèi)發(fā)生微小位移發(fā)生微小位移產(chǎn)生一個復制光波；而對于匯聚橫向剪切干涉，復制光波由匯聚波繞其曲率中心轉(zhuǎn)動產(chǎn)生。干涉條紋中包含有原始波前的差分信息，通過特定的分析和定量計算梳理（反傅里葉變換）可以再現(xiàn)原始波前（圖3）。

圖1.特制光柵

圖2.幾何光學描述波前畸變

圖3. 波前相位重構(gòu)示意圖

技術(shù)優(yōu)勢

1. 高采樣點：

高達400*300個采樣點，具備強大的局部畸變測試能力，降低測量不準確性和噪聲；同時得到高精度強度分布圖。

2. 消色差：

干涉和衍射相結(jié)合抵消了波長因子，干涉條紋間距與光柵間距wan全相等。適應于不多波長光學測量且不需要重復校準，

3. 可直接測量高動態(tài)范圍波前：

可見光波段可達500μm的高動態(tài)范圍；可測試離焦量，大相差，非球面和復曲面等測。

圖4.測試對比圖圖5. 消色差圖6.高動態(tài)范圍測量

應用方向：

1. 激光光束測量

可以實時測量強度相位（2D/3D）信息，Zernike/Legendre系數(shù)，遠場，光束參數(shù)，光束形狀M2等。

2光學測量

Phasics波前傳感器可對光學系統(tǒng)和元器件進行透射和反射式測量，專業(yè)Kaleo軟件可分析PSF,MTF等

光學測量透射式和反射式測量

3.光學整形：

利用Phasics波前傳感器檢測到精確的波前畸變信息，反饋給波前校正系統(tǒng)以補償待測波前的畸變，從而得到目標波前相位分布和光束形狀。右圖上為把一束RMS=1.48λ的會聚光矯正為RMS=0.02λ的準平面波；右圖下為把分散焦點光斑矯正為準高斯光束。高頻率大氣湍流自適應需要配合高頻波前分析儀。

4.光學表面測量：

Phasics的SID4軟件可以直接測量PtV, RMS, WFE和曲率半徑等，可直接進行自我校準，兩次測量相位作差等。非常方便應用于平面球面等形貌測量。部分測量光路如右圖所示

5.等離子體測量

法國Phasics公司SID4系列等離子體分析儀(Plasma Diagnosis)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的等離子體分析儀器。該產(chǎn)品可實時檢測激光產(chǎn)生的等離子體的電子密度、模式及傳播方式。監(jiān)測等離子體的產(chǎn)生、擴散過程，以及等離子體的品質(zhì)因數(shù)。更好地為客戶在噴嘴設計、激光脈沖的照度、氣壓、均勻性等方面提供優(yōu)化的數(shù)據(jù)支持。

附：夏克哈特曼和四波橫向剪切干涉波前分析儀對比表

	Phasics剪切干涉	夏克哈特曼	區(qū)別
技術(shù)	四波側(cè)向剪切干涉	夏克-哈特曼	PHASICS SID4是對夏克-哈特曼技術(shù)的改進，投放市場時，已經(jīng)申請技術(shù)專li，全qiu售出超過500個探測器。
重建方式	傅里葉變換	分區(qū)方法（直接數(shù)值積分）或模式法（多項式擬合）	夏克-哈特曼波前探測器，以微透鏡單元區(qū)域的平均值來近似。對于大孔徑的透鏡單元，可能會增加信號誤差，在某些情況，產(chǎn)生嚴重影響。在分區(qū)方法中，邊界條件很重要。
光強度	由于采用傅里葉變換方法，測量對強度變化不敏感	由于需要測量焦點位置，測量對強度變化靈敏	關(guān)于測量精度，波前測量不依賴于光強度水平
使用、對準方便	界面直觀，利用針孔進行對準	安裝困難，需要精密的調(diào)節(jié)臺	SID4 產(chǎn)品使用方便
取樣（測量點）	SID4-HR達300*400測量點	128*128測量點（微透鏡陣列）	SID4-HR具有很高的分辨率。這使得測量結(jié)果更可靠，也更穩(wěn)定
數(shù)值孔徑	SID4 HR NA：0.5	0.1	SID4-HR動態(tài)范圍更高
空間分辨率	29.6μm	>100μm	SID4-HR空間分辨率更好
靈敏度	2nmRMS	約λ/100	SID4-HR具有更好的靈敏度