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詳細介紹
MF系列光學(xué)測量顯微鏡采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。主要運用于錄象磁頭、大規(guī)模集成電路線寬以及其它精密零件的測試。廣泛地適用于計量室、生產(chǎn)作業(yè)線及科學(xué)研究等部門。主要優(yōu)點：工作臺除作X、Y坐標的移動外，還可以作360度的旋轉(zhuǎn)，是一種理想的固定場所小型精密測量儀器。加裝影像測量裝置，一種將將顯微鏡看到的實物圖像通過數(shù)模轉(zhuǎn)換，使其成像在顯微鏡自帶的屏幕上或計算機上的顯微鏡設(shè)備。特別適用于制造業(yè)、精密零件以及不方便
三豐顯微鏡 觀察、測量和處理系統(tǒng)化的顯微鏡陣容
MF 系列
176 系列 — 測量顯微鏡
• 可觀察清晰無閃爍正像，且視場開闊。
• 測量精度在同類設(shè)備中(符合JIS B 7153標準)。
• 使用ML 系列，專門為MF 系列設(shè)計的高NA物鏡(長工作距離型)。
• 照明裝置(反射／透射) 可選用高亮度LED 燈泡或鹵素?zé)襞荨?/span>
• 利用可變孔徑光闌(反射／透射) 可進行無衍射觀察測量。
• 各類尺寸的標準工作臺，達到400×200mm。
• 快速釋放裝置便于在測量工件大或測量工件數(shù)量多時快速移動工作臺。
• 粗調(diào)／細調(diào)進給手柄作為標準配置安裝在立柱兩側(cè)，便于精確聚焦與觀察測量，不受用左手或右手習(xí)慣的影響。
• 高倍目鏡觀察，達2000X。
• 標準測量顯微鏡，配有種類繁多的可選附件，包括Vision Unit 影像裝置與各種CCD數(shù)碼相機
三豐顯微鏡技術(shù)規(guī)格
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