表面光源可以用全域控制、環(huán)形控制、1/8圓或1/4圓的方向區(qū)塊控制或是單獨(dú)的區(qū)段控制等模式來選擇使用。

每個(gè)區(qū)塊都可以隨意控制，使被測工件的影像更清晰去除陰影部分的干擾，使難以觀察的邊緣清晰呈現(xiàn)。

使用下方的按鍵來切換選擇，右邊的滾動(dòng)條來調(diào)整亮度。使用者可以同時(shí)使用多個(gè)區(qū)段的光源，先按住Ctrl鍵，再點(diǎn)選需使用的光源區(qū)段，或是用鼠標(biāo)拖拽框選需使用的光源區(qū)段。

五環(huán)表面光源使用的范例：

環(huán)形控制

區(qū)段控制

區(qū)塊控制

全域控制

提供長與短工作距離的選擇

使用2X物鏡會(huì)縮短鏡頭與工件之間的工作距離，而因?yàn)殡x工件較近所以也須使用2X表面環(huán)形光源。由于2X表面環(huán)形光源的亮度更強(qiáng)且光線入射角度更接近水平，更有利于觀察與測量特殊邊緣與凹槽；

相對地，未安裝2X物鏡時(shí)，工作距離會(huì)較長，1X表面環(huán)形光源的光源亮度也較暗一些，光線入射角度更接近垂直。

附加資料：

Micro-Vu影像測量儀高效的光源功能包括：表面光源，輪廓光源，同軸光源。

輪廓光源

輪廓光源由工件的下方發(fā)出，用來測量穿透孔與工件邊緣。單獨(dú)使用輪廓光源來觀察工件會(huì)得到一個(gè)輪廓明顯，邊緣對比度高的黑白影像。

同軸光源

同軸光源由鏡頭的側(cè)面發(fā)出，透過鏡頭內(nèi)的半反射鏡反射，然后聚光向下穿透鏡頭中心照射在工件表面。同軸光源應(yīng)用在高倍率測量、盲孔以及平坦面上的元素測量。