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    產(chǎn)品展廳收藏該商鋪

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    maxLIGHT pro集成光束分析光譜儀

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    • maxLIGHT pro集成光束分析光譜儀

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    • 型號(hào) maxLIGHT pro
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    • 廠商性質(zhì) 代理商
    • 所在地

    在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品 加入對(duì)比

    更新時(shí)間:2022-08-23 12:17:15瀏覽次數(shù):586

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    產(chǎn)品簡介

    產(chǎn)品概述;maxLIGHTpro是一款集成了直接光束分析儀的高性能光譜儀功能

    詳細(xì)介紹

    產(chǎn)品概述;

    • maxLIGHT pro是一款集成了直接光束分析儀的高性能光譜儀功能。
    • 光譜儀和光束分析儀模式之間的自動(dòng)快速切換可以對(duì)光束特性進(jìn)行驗(yàn)證。該光譜儀具有從1nm 到200nm的像差校正。
    • 通過三個(gè)覆蓋范圍1-20nm,5-80nm 和40-200nm 的光柵可以進(jìn)行寬帶光譜測(cè)量。
    • 該光譜儀可以在沒有入射狹縫的情況下使用,以在距離光源一定范圍內(nèi)地收集光。
    • 模塊化設(shè)計(jì)能夠匹配不同的實(shí)驗(yàn)幾何形狀和配置。
    • 具有集成的狹縫支架和濾光片插入單元,以及電動(dòng)光柵定位。


    image.png

    主要特征:

    光源直接成像

    光源直接成像到檢測(cè)器上,不需要狹窄的入射孔;

    比標(biāo)準(zhǔn)版本高大約 20 倍以上的光收集和信噪比;

     

    堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì):

     設(shè)計(jì)緊湊,占地面積小;

    抗環(huán)境干擾,無狹縫設(shè)計(jì);

    沒有活動(dòng)部件;

    光柵位置監(jiān)控,用于保持光柵對(duì)準(zhǔn)。

     

    特殊解決方案:

    非磁性儀器

    特殊的幾何形狀外殼

    電磁脈沖保護(hù)

    超真空配置

     

    根據(jù)需求定制

    每臺(tái)光譜儀都是經(jīng)過定制的,以*匹配所需的應(yīng)用,例如:

    提供與實(shí)驗(yàn)箱接口

    可調(diào)整光源距離

    根據(jù)用戶定義提供濾光片安裝座


    Characteristics

    maxLIGHT

    maxLIGHT plus

    maxLIGHT pro

    平場(chǎng)掠入射光譜儀

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    集成光束分析儀



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    的無縫設(shè)計(jì),高效率

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    探測(cè)器可靈活選擇:

    XUV-CCD或MCP / CCD

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    工作壓力<10-6mbar

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    可根據(jù)用戶需求定制

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    閃耀光柵進(jìn)一步提高效率


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    電動(dòng)閉環(huán)三維光柵定位


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    電動(dòng)二維光柵定位

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    濾光片插入裝置


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    ?

    真空閥門


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    【產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)】



    SRX光柵

    XUV光柵

    VUV光柵

    波長,nm, 

    2-20

    7-80

    40-200

    操作模式

    無狹縫

    無狹縫

    無狹縫

    光源距離,m

    可調(diào)

    可調(diào)

    可調(diào)

    波長,nm

    2-10

    3-20

    7-40

    10-60

    25-80

    40-120

    100-200

    平面場(chǎng)尺寸,nm

    35

    45

    60

    55

    50

    75

    110

    色散,nm/mm

    0.2-0.35

    0.3-0.4

    0.5-0.65

    0.7-1.1

    0.9-1.3

    0.9-1.3

    1.2-1.6

    分辨率,nm

    <0.015

    <0.017

    <0.028

    <0.045

    <0.05

    <0.05

    <0.07


    其他配置(光譜范圍,狹縫操作,高分辨率等)可根據(jù)要求提供。





    樣品測(cè)量結(jié)果證明了極紫外波段光譜儀的分辨能力。

    所顯示的高次諧波光譜是由單個(gè)飛秒激光脈沖與固體目標(biāo)相互作用和隨后的光譜濾波產(chǎn)生的。極紫外光譜儀清楚地解決了生成過程固有的子結(jié)構(gòu)。圖片上半部分:由 X 射線 CCD 相機(jī)記錄的原始圖像。 圖片下半部分:通過列合并獲得的諧波頻譜。(Plasma Phys. Control. Fusion 53 (2011)124021)


    image.png



    樣品測(cè)量結(jié)果證明了信號(hào)強(qiáng)度的提高。

    在相同的信號(hào)強(qiáng)度下,與標(biāo)準(zhǔn)光譜儀(虛線)相比,H + P 光譜儀(實(shí)線)的分辨率明顯更高。與標(biāo)準(zhǔn)方法相同的分辨率需要窄縫設(shè)置,因此信號(hào)強(qiáng)度會(huì)顯著下降。H + P 的無狹縫設(shè)計(jì)可以同時(shí)提高分辨率和信號(hào)強(qiáng)度。(data courtesy of Prof. C. Hauri, Paul Scherrer Inst.

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