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    技術(shù)文章

    結(jié)構(gòu)光三維測量技術(shù)簡介

    閱讀:494          發(fā)布時(shí)間:2022-8-20

    相位測量輪廓術(shù) ( PhaseMeasuring Profilometry,簡稱PMP)是采用結(jié)構(gòu)光照明的一種非接觸的三維面形測量方法. 這種方法采用正弦光柵投影和數(shù)字相移技術(shù),以較低廉的光學(xué)、電子和數(shù)字硬件設(shè)備為基礎(chǔ),以較高的速度和精度獲取和處理大量的三維數(shù)據(jù)。作為一種重要的三維傳感手段,這種方法已在工業(yè)檢測、實(shí)物仿形、醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。


    1)光學(xué)三維測量技術(shù)按照成像照明方式的不同通常可分為被動(dòng)三維測量和主動(dòng)三維測量兩大類。 

       相位測量輪廓術(shù)目前已成為使用廣泛的主動(dòng)三維測量技術(shù)。

    2)相位計(jì)算

    2.1 相位主值計(jì)算 

        標(biāo)準(zhǔn)N幀相移算法對(duì)系統(tǒng)的隨機(jī)噪聲具有的抑制作用,且對(duì)N-1次以下諧波誤差不敏感,目前已成為結(jié)構(gòu)光測量技術(shù)中使用廣泛的一種相移算法。

    2.2 相位展開

        目前已有非常多的相位展開算法,這些算法大體上可分為兩大類:空間相位展開和時(shí)間相位展開。與空間相位展開方法相比,時(shí)間相位展開雖然需要的圖像更多,但是可以算法的穩(wěn)定性更強(qiáng)。因此,多采用多頻外差原理這一經(jīng)典的時(shí)間相位展開方法進(jìn)行相位展開。


    3) 相位誤差分析與補(bǔ)償

    3.1 相位誤差分析

         一般來講,相位測量輪廓術(shù)中的相位誤差有三個(gè)主要來源:相移機(jī)構(gòu)的相移誤差、光柵圖像的非正弦化、光柵圖像的離散化和隨機(jī)噪音。其中光柵圖像的非正弦化將成為系統(tǒng)相位計(jì)算的主要誤差。

          相位測量輪廓術(shù)的測量誤差有2個(gè)主要來源,即相移誤差和探測器的非線性誤差.

          相移誤差因相移步距的不相等所致,相移誤差常常是不可避免的,但是可以通過采用精密的相移裝置和測量過程中采用實(shí)時(shí)相移校正技術(shù) ,使相移誤差降低到最小限度.這時(shí)探測器的非線性誤差將成為主要的影響因素.


    3.2 相位誤差補(bǔ)償

          光柵圖像中的高頻分量引起的相位誤差是有規(guī)律的,如果能夠?qū)ζ溥M(jìn)行正確的統(tǒng)計(jì),找出其分布規(guī)律,則可使用相位誤差查找表對(duì)其進(jìn)行有效的補(bǔ)償。

          通過直接分析拍攝標(biāo)準(zhǔn)平板得到的光柵圖像的相位誤差,并量化建立相位誤差查找表,后續(xù)系統(tǒng)標(biāo)定和測量過程中使用已建立的相位誤差查找表對(duì)相位誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 


    4)系統(tǒng)參數(shù)標(biāo)定

         選對(duì)合適的系統(tǒng)參數(shù)標(biāo)定方法可以有效的減小誤差。

    5)三維重建

    6) 結(jié)構(gòu)光三維測量系統(tǒng)及其應(yīng)用簡介


          利用結(jié)構(gòu)光成像的設(shè)備目前已經(jīng)很成熟的拍照式三維掃描儀,如:精易迅科技的PTS系列三維測量系統(tǒng)中標(biāo)準(zhǔn)型系統(tǒng)的測量精度為0.05mm,精密型系統(tǒng)的測量精度為0.015mm。


    備注:此新聞來源于精易迅科技,轉(zhuǎn)發(fā)請(qǐng)標(biāo)注。


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